[发明专利]鳍式场效晶体管装置结构及其形成方法有效
申请号: | 201711217315.1 | 申请日: | 2017-11-28 |
公开(公告)号: | CN109427894B | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 陈维邦;郭廷晃;张简旭珂;郑志成 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 冯志云;张福根 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 提供鳍式场效晶体管装置结构及其形成方法。方法包含在基底上形成多个鳍式结构,且基底包含第一区和第二区。方法包含形成多个隔离结构环绕鳍式结构,且隔离结构中每一个的顶面低于鳍式结构中每一个的顶面,以及隔离结构包含在第一区上的第一隔离结构和在第二区上的第二隔离结构。方法包含在第一隔离结构上形成掩模层以暴露出第二隔离结构,以及移除第二隔离结构的一部分,使得第二隔离结构中每一个的顶面低于第一隔离结构中每一个的顶面。 | ||
搜索关键词: | 鳍式场效 晶体管 装置 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种鳍式场效晶体管装置结构的形成方法,包括:在一基底上形成多个鳍式结构,其中该基底包括一第一区和一第二区;形成多个隔离结构环绕所述多个鳍式结构,其中所述多个隔离结构中每一个的顶面低于所述多个鳍式结构中每一个的顶面,且所述多个隔离结构包含在该第一区上的多个第一隔离结构,以及在第二区上的多个第二隔离结构;在所述多个第一隔离结构上形成一掩模层以暴露出所述多个第二隔离结构;以及移除所述多个第二隔离结构的一部分,使得所述多个第二隔离结构中每一个的顶面低于所述多个第一隔离结构中每一个的顶面。
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