[发明专利]一种计量芯片基准电压的测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201711040112.X 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107656235A 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 李文文;袁瑞铭;丁恒春;易忠林;鲁观娜;叶雪荣;翟国富;吕明东;杨怀庄;刘丽;殷庆铎;魏雄飞;徐占河;刘影;吕言国;姜振宇;杨东升 申请(专利权)人: 国网冀北电力有限公司电力科学研究院;华北电力科学研究院有限责任公司;哈尔滨工业大学;威胜集团有限公司;国家电网公司
主分类号: G01R35/04 分类号: G01R35/04
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 王涛,汤在彦
地址: 100045 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种计量芯片基准电压的测量装置及方法,采用计量芯片测量电路电连接SOP‑DIP转换器,将待测计量芯片电连接于SOP‑DIP转换器的表面,使用万用表读取计量芯片测量电路中的待测计量芯片的基准电压值,计算参考基准电压值与万用表读取的待测计量芯片基准电压值之间的差值,判断该差值是否在允许的误差值内的方法,监测待测计量芯片的性能,实现对计量芯片的批量测试。本发明实现了对电能表的核心器件即计量芯片的批量测试,通过检测计量芯片的基准电压值监测计量芯片的性能,从而保证电能表的计量精度及维护用户和国家电网的切身利益。
搜索关键词: 一种 计量 芯片 基准 电压 测量 装置 方法
【主权项】:
一种计量芯片基准电压的测量装置,其特征在于,包括:计量芯片测量电路及SOP‑DIP转换器;所述SOP‑DIP转换器通过其上的多个管脚电连接所述计量芯片测量电路;待测计量芯片电连接于所述SOP‑DIP转换器上表面,通过所述计量芯片测量电路对所述待测计量芯片的基准电压进行测量。
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