[发明专利]基准校验装置及基准校验方法

摘要

本发明公开了一种基准校验装置及基准校验方法，用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差，上板和下板均包括至少两根相互垂直的基准线，基准校验装置包括定位组件和线锤，定位组件上设有定位标志，定位标志用于对齐上板的基准线，定位组件用于与上板连接，线锤与定位组件连接，线锤的长度可调节。定位标志在定位组件上的位置始终保持不变，通过移动定位组件来调整定位标志与上板的基准线之间的对齐情况，测量出的结果误差更小、精度更高。技术人员将定位组件和上板的基准线对齐之后，即可离开上板处，到达下板测量。只需一个技术人员即可进行全部操作，节省了人力和总的工时，提高效率，也保证了技术人员的安全。