[发明专利]一种避免数据擦除出错的闪存装置在审
申请号: | 201710632782.4 | 申请日: | 2017-07-28 |
公开(公告)号: | CN107507645A | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 王文静;康太京;李炯尚;朱家骅;谢莺霞;张纲;何峻 | 申请(专利权)人: | 东芯半导体有限公司 |
主分类号: | G11C16/14 | 分类号: | G11C16/14;G11C16/34 |
代理公司: | 上海申新律师事务所31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 200120 上海市浦东新区中国(上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种避免数据擦除出错的闪存装置,应用于闪存单元的擦除,存储阵列中包括多个存储单元,包括数据擦除单元内预先由高至低形成多个等级的擦除电压并根据外部输入的擦除信号输出一个等级的擦除电压以对被激活的存储单元进行数据擦除;数据检测单元,用以在完成对存储单元的擦除后,对其进行检测以判断是否擦除成功,并在擦除失败时向数据擦除单元发送一第二检测信号;数据擦除单元接收到第二检测信号后将擦除电压相对于之前的擦除操作提高一个等级,并重新对被激活的存储单元进行数据擦除,直至存储单元被擦除成功。其技术方案的有益效果在于,克服了现有技术中对存储单元擦除存在的过度擦除进而导致闪存装置加剧损耗的缺陷。 | ||
搜索关键词: | 一种 避免 数据 擦除 出错 闪存 装置 | ||
【主权项】:
一种避免数据擦除出错的闪存装置,应用于闪存单元的擦除,所述闪存单元包括一存储阵列,所述存储阵列中包括多个存储单元,其特征在于,包括:数据擦除单元,与所述存储阵列连接,所述数据擦除单元内预先由高至低形成多个等级的擦除电压,并根据一外部输入的擦除信号输出一个等级的所述擦除电压以对被激活的所述存储单元进行数据擦除;数据检测单元,一端与每个所述存储单元的所述字线连接,另一端与所述数据擦除单元连接,用以在所述数据擦除单元完成对所述存储单元的擦除后,对所述存储单元进行检测以判断是否擦除成功,并在擦除失败时向所述数据擦除单元发送一第二检测信号;所述数据擦除单元接收到所述第二检测信号后将所述擦除电压相对于之前的擦除操作提高一个等级,并重新对被激活的所述存储单元进行数据擦除,直至所述存储单元被擦除成功。
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