[发明专利]一种基于半阈值追踪算法的荧光分子断层成像重建方法

摘要

本发明属于分子影像技术领域，公开了一种基于半阈值追踪算法的荧光分子断层成像重建方法，采用多点激发，有限角度测量，构建非凸问题稀疏正则模型，建立表面的测量数据与荧光目标分布的线性关系，将线性关系转化为1/2范数极小化问题求解，获得重建目标内部的荧光目标的三维分布与浓度；通过阈值迭代和匹配追踪算法对模型求解。本发明有利于减少问题的病态性；利用光学特性参数与解剖结构信息作为先验知识，提高了重建结果的准确性与重建图像的质量；将重建问题转化为有约束条件的1/2‑范数极小化问题，利用半阈值追踪算法来求解，使得解满足1/2‑范数最小的同时保证重建问题对参数的鲁棒性和加速重建时间。

主权项

一种基于半阈值追踪算法的荧光分子断层成像重建方法，其特征在于，所述基于半阈值追踪算法的荧光分子断层成像重建方法采用多点激发，有限角度测量，构建非凸问题稀疏正则模型，建立表面的测量数据与荧光目标分布的线性关系，将线性关系转化为1/2范数极小化问题求解，获得重建目标内部的荧光目标的三维分布与浓度；通过阈值迭代和匹配追踪算法对模型求解；所述1/2范数极小化问题表示为：minX{||AX-Φm||22+λ||X||1/2};]]>其中，λ是正则化参数，A是系统矩阵，X是要求解的荧光目标三维分布与浓度，光通量密度Φm。