[发明专利]半导体装置、电子控制系统和评估电子控制系统的方法有效
| 申请号： | 201710395772.3 | 申请日： | 2017-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN107450003B | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 前田洋一;松岛润 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种半导体装置、电子控制系统和评估电子控制系统的方法。为了在不向逻辑电路添加新电路的情况下在逻辑电路中生成虚假故障，半导体装置包括多个测试点，其包括测试点触发器，以当触发器保持预定值时将逻辑电路内的目标节点固定到预定逻辑电平。通过顺序耦合多个测试点触发器来配置扫描链。在逻辑电路的正常操作期间，故障注入电路通过生成故障数据并将所生成的故障数据通过扫描链的扫入节点设定到扫描链，将故障注入目标节点。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 电子 控制系统 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，所述半导体装置由单个半导体芯片构成，所述半导体装置包括：逻辑电路，所述逻辑电路具有预定功能；多个测试点，所述测试点包括测试点触发器，并且当所述测试点触发器保持第一值时，所述测试点将所述逻辑电路内的目标节点固定到预定逻辑电平；第一扫描链，所述第一扫描链是通过将所述测试点触发器中的每一个测试点触发器顺序耦合来配置的；以及故障注入电路，所述故障注入电路通过生成故障数据并且将所述故障数据通过所述第一扫描链的扫入节点设定到所述第一扫描链，在所述逻辑电路的正常操作期间将故障注入到所述逻辑电路内的所述目标节点。
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