[发明专利]一种提高通用存储器芯片走线的静电释放能力的方法在审

专利信息
申请号: 201710229776.4 申请日: 2017-04-10
公开(公告)号: CN107172799A 公开(公告)日: 2017-09-15
发明(设计)人: 张坤 申请(专利权)人: 晶晨半导体(上海)有限公司
主分类号: H05K1/02 分类号: H05K1/02
代理公司: 上海申新律师事务所31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区张江*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及芯片走线的静电释放能力,尤其涉及通用存储器芯片的走线的静电释放能力方法。本发明的提高通用存储器芯片走线的静电释放能力的方法,应用于双层PCB板,于双层PCB板上设置通用存储器芯片的第一电路走线布局,第一电路走线布局由第一地址线,第一指令线,第一数据线和第一接地回路组成,第一地址线,第一指令线,第一数据线和第一接地回路之间的间距设置在4mil~8mil之间;第一接地回路设置于第一电路走线布局的外围,以隔离静电能量。本发明将通用存储器芯片的各走线的间距由传统的10mil缩小至4mil~8mil,减小了双层PCB板的面积,从而留出了足够的空间给接地回路做隔离,防止静电释放能量进入。
搜索关键词: 一种 提高 通用 存储器 芯片 静电 释放 能力 方法
【主权项】:
一种提高通用存储器芯片走线的静电释放能力的方法,应用于双层PCB板,其特征在于,于所述双层PCB板上设置所述通用存储器芯片的第一电路走线布局,所述第一电路走线布局由第一地址线,第一指令线,第一数据线和第一接地回路组成,所述第一地址线,第一指令线,第一数据线和第一接地回路之间的间距设置在4mil~8mil之间;所述第一接地回路设置于所述第一电路走线布局的外围,以隔离静电能量。
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