[发明专利]一种PCB板曝光方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710044634.0 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN106707687B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 罗郁新 申请(专利权)人: 广州美维电子有限公司
主分类号: G03F7/00 分类号: G03F7/00;G03F7/20
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 罗晶;高淑怡
地址: 510663 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种PCB板曝光方法及装置,包括以下步骤;S1:制作出货单元需要拉伸平移相关的文本资料,并将该文本资料写入DI曝光机中;所述文本资料包括多个涨缩系数分组区间和多个涨缩系数集合,所述涨缩系数分组区间和涨缩系数集合一一对应,所述涨缩系数集合包括Panel边框、出货单元、绿油标靶的ODF系数,所述ODF系数为涨缩系数;S2:通过DI曝光机测量获得PCB板的实际尺寸,计算出该PCB板实际尺寸与标准尺寸的差值;S3:DI曝光机根据该差值选择对应文本资料里的涨缩系数集合,按照选择的涨缩系数集合对出货单元进行平移和拉伸。本发明保证成品SET符合客户要求,又能有效改善外层图形偏位和拒曝光问题,从而提升了外层曝光对位能力。
搜索关键词: 一种 pcb 曝光 方法 装置
【主权项】:
一种PCB板曝光方法,其特征在于,包括以下步骤;S1:制作出货单元需要拉伸平移相关的文本资料,并将该文本资料写入DI曝光机中;所述文本资料包括多个涨缩系数分组区间和多个涨缩系数集合,所述涨缩系数分组区间和涨缩系数集合一一对应,所述涨缩系数集合包括Panel边框、出货单元、绿油标靶的ODF系数,所述ODF系数为涨缩系数;S2:通过DI曝光机测量获得PCB板的实际尺寸,计算出该PCB板实际尺寸与标准尺寸的差值;S3:DI曝光机根据该差值选择对应文本资料里的涨缩系数集合,按照选择的涨缩系数集合对出货单元进行平移和拉伸;S4:出货单元平移和拉伸完成后DI曝光机对出货单元进行曝光。
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