[发明专利]一种测量电光晶体半波电压的方法与装置

摘要

本发明公开了一种测量电光晶体半波电压的方法与装置，本发明构建“光电混合环路”，鉴于“自激振荡”物理模型，利用“振荡”条件来对电光晶体的半波电压进行测量。本发明的测量方法充分体现了半波电压的频率相关性，突破了传统测量方法低频域测量的局限性；采用“振荡”与“非振荡”两种离散、突变的物理现象来判定“零界点”，克服了传统测量方法中正弦曲线“波峰”、“波谷”两种物理“零界点”的连续、缓变性，提高测量精度，具有极大的商业前景。

主权项

1.一种测量电光晶体半波电压的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一)构建马赫‑增德尔干涉仪；步骤二)实现光载波的强度调制：对于马赫‑增德尔干涉仪，其中一臂上的电光晶体不加电信号，另一臂上的电光晶体加电信号，所述电信号包括交流电压信号和直流电压信号；步骤三)构建模拟光纤链路：光载波输入马赫‑增德尔干涉仪，电信号调制到光载波的幅度上形成光信号，光电探测器将光信号还原为输出电信号，形成模拟光纤链路；调节直流电压信号，使得模拟光纤链路的增益达到最大；步骤四)构建光电混合环路，产生自激振荡；基于模拟光纤链路，增加放大器、滤波器与耦合器，构建光电混合环路，模拟光纤链路输出电信号经放大、滤波后反馈到马赫‑增德尔干涉仪形成光电混合环路；步骤五)根据起振条件确定半波电压值：从小到大调节放大器的增益，直到光电混合环路产生自激振荡，此时开环增益为1，记录此状态下系统各参数值，计算得到电光晶体的半波电压。