[发明专利]TFT背板的制作方法及TFT背板有效
申请号: | 201610409643.0 | 申请日: | 2016-06-07 |
公开(公告)号: | CN106057735B | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 张晓星;周星宇;徐源竣 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/32 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT背板的制作方法及TFT背板,通过采用氧化物半导体来制作开关TFT,利用氧化物半导体开关迅速和具有较低漏电流的优势,提高开关TFT的开关速度并降低其漏电流;通过采用多晶硅来制作驱动TFT,利用多晶硅具有较高的电子迁移率和晶粒均一的特点,提高驱动TFT的电子迁移率和电流输出均一性,有利于提高OLED器件的发光均一程度。 | ||
搜索关键词: | tft 背板 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种TFT背板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上形成间隔设置的第一栅极(21)与第二栅极(22),在所述第一栅极(21)、第二栅极(22)、及衬底基板(10)上沉积栅极绝缘层(30),在所述栅极绝缘层(30)上沉积非晶硅薄膜(31);步骤2、对所述非晶硅薄膜(31)进行硼离子掺杂,然后对所述非晶硅薄膜(31)进行快速热退火处理,使所述非晶硅薄膜(31)结晶转化为低温多晶硅薄膜(32),所述低温多晶硅薄膜(32)中硼离子的掺杂浓度从上到下逐渐减小;步骤3、对所述低温多晶硅薄膜(32)进行图形化处理,得到对应于第二栅极(22)上方的多晶硅层(40);步骤4、在所述栅极绝缘层(30)上形成对应于第一栅极(21)上方的氧化物半导体层(50);步骤5、在所述氧化物半导体层(50)、多晶硅层(40)、及栅极绝缘层(30)上形成一金属层(51),采用一道半色调光罩制程对所述金属层(51)、及多晶硅层(40)进行图形化处理,得到设于所述氧化物半导体层(50)与栅极绝缘层(30)上且分别与所述氧化物半导体层(50)两侧相接触的第一源极(71)和第一漏极(72)、以及设于所述多晶硅层(40)与栅极绝缘层(30)上且分别与所述多晶硅层(40)两侧相接触的第二源极(73)和第二漏极(74),同时在所述多晶硅层(40)上对应于所述第二源极(73)与第二漏极(74)之间的区域形成一凹槽(41),使得所述多晶硅层(40)上位于凹槽(41)下方的部分形成沟道区(42),所述多晶硅层(40)上位于沟道区(42)两侧的区域分别形成源极接触区(43)与漏极接触区(44);步骤6、在所述第一源极(71)、第一漏极(72)、第二源极(73)、第二漏极(74)、氧化物半导体层(50)、多晶硅层(40)、及栅极绝缘层(30)上形成钝化层(80),在所述钝化层(80)上形成平坦层(90);对所述平坦层(90)、钝化层(80)、及栅极绝缘层(30)进行图形化处理,在所述平坦层(90)与钝化层(80)上形成对应于第一漏极(72)上方的第一通孔(91)、及对应于第二漏极(74)上方的第二通孔(92),在所述平坦层(90)、钝化层(80)、及栅极绝缘层(30)上形成对应于第二栅极(22)上方的第三通孔(93);步骤7、在所述平坦层(90)上形成连接导电层(110)与像素电极(120),所述连接导电层(110)经由第一通孔(91)、及第三通孔(93)分别与所述第一漏极(72)、及第二栅极(22)相接触,从而连接所述第一漏极(72)与第二栅极(22),所述像素电极(120)经由第二通孔(92)与所述第二漏极(74)相接触;在所述连接导电层(110)、像素电极(120)、及平坦层(90)上形成像素定义层(130),对所述像素定义层(130)进行图形化处理,得到对应于所述像素电极(120)上方的第四通孔(134)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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