[发明专利]测量处理装置、测量处理方法和测量处理程序有效
| 申请号： | 201480083007.2 | 申请日： | 2014-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN107076684B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 町井畅且;早野史伦;河井章利 | 申请（专利权）人： | 株式会社尼康 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 日本国东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于X射线检查装置的测量处理装置，所述X射线检查装置检测穿过放置在放置单元上的试样的预定区域的X射线，以对所述试样的预定区域的形状进行检查，所述测量处理装置包括：设置单元，用于在所述试样上设置待检测的三维区域；以及切片选择单元，用于在所述待检测区域上设置多个切片区域，当所述多个切片区域被视为所述预定区域时，对于所述多个切片区域中的每一个切片区域，计算检测所述待检测区域所需的所述预定区域的位移量，并且基于每个计算的位移量，从所述多个切片区域中选择用于检查的切片区域。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 处理 装置 方法 程序 | ||
【主权项】：
一种用于X射线检查装置的测量处理装置，所述X射线检查装置检测穿过放置在放置单元上的试样的预定区域的X射线，以对所述试样的预定区域的形状进行检查，所述测量处理装置包括：设置单元，用于在所述试样上设置待检测的三维区域；以及切片选择单元，用于在所述待检测区域上设置多个切片区域，当所述多个切片区域被视为所述预定区域时，对于所述多个切片区域中的每一个切片区域，计算检测所述待检测区域所需的所述预定区域的位移量，并且基于每个计算的位移量，从所述多个切片区域中选择用于检查的切片区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社尼康，未经株式会社尼康许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480083007.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：饮料萃取装置用送脱包机构
- 下一篇：一种可发电的野外炊锅
