[发明专利]用于测试存储器的方法及装置有效
| 申请号： | 201410546844.6 | 申请日： | 2014-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN105575438B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 赵云午;王浩 | 申请（专利权）人： | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试存储器的方法及装置。在一种集成电路中，第一触发器扫描链被载入用于测试触发器的数据保持的数据，并且存储器被载入用于由存储器内建自测试(MBIST)包装器电路执行保持测试的数据。在数据被从存储器内读取之前，系统的一部分被置于低功率状态中达预定的时间段，并且处于低功率状态下的存储器的数据保持力被确定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 存储器 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试集成电路的存储器的操作的方法，包括：将第一数据载入第一触发器扫描链，用于测试所述触发器的数据保持；将第二数据载入所述存储器，用于由存储器内建自测试MBIST包装器电路执行保持测试；将所述集成电路的至少一部分和所述存储器置于低功率状态中达预定的时间段；从所述存储器中读取所述第二数据；以及基于所读取数据确定在所述低功率状态中的所述存储器进行的所述第二数据的保持。
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