[发明专利]用于测试存储器的方法及装置

权利要求书

1.一种用于测试集成电路的存储器的操作的方法，包括：

将第一数据载入第一触发器扫描链，用于在第一测试模式下测试所述触发器的数据保持；

将第二数据载入所述存储器，用于在低功率模式下由存储器内建自测试MBIST包装器电路执行保持测试；

将所述集成电路的至少一部分和所述存储器置于低功率状态中达预定的时间段；

从所述存储器中读取所述第二数据；

基于所读取数据确定在所述低功率状态中的所述存储器进行的所述第二数据的保持；

在第一测试模式下将第三数据载入所述第一触发器扫描链以及与所述MBIST包装器电路关联的第二触发器扫描链；

基于在所述第一触发器扫描链及第二触发器扫描链内的所述第三数据将所述集成电路的逻辑部分初始化到已知的状态；

基于在所述第一触发器扫描链及第二触发器扫描链内的所述第三数据来测试在正常功率模式中的所述集成电路的所述逻辑部分。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：从所述第一触发器扫描链中卸载所述第一数据并且基于所卸载数据验证所述第一触发器扫描链进行的数据存储。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：在所读取数据与载入所述存储器内的所述第二数据一致时输出指示所述存储器进行的数据的正确保持的信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述低功率模式是低泄漏停止模式。

5.根据权利要求1所述的方法，其中在所述低功率模式中，到所述集成电路的所述逻辑部分的时钟被停止。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述低功率模式是状态保持功率门控SRPG模式。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述预定的时间段是触发器数据保持要求和存储器保持要求中的较大者。

8.一种用于测试集成电路的存储器的操作的系统，包括：

用于存储数据的存储器；

与所述存储器耦接用于测试所述存储器的操作的存储器内建自测试MBIST包装器电路，其中在低功率模式中所述MBIST包装器电路在所述存储器内存储保持数据；

具有输入和输出的触发器扫描链，其中在扫描测试模式中所述触发器扫描链经由所述输入来接收扫描数据并且将所述扫描数据存储于其内；

组合逻辑；以及

用于控制至少所述组合逻辑的操作电压的电源管理控制PMC单元，

其中所述PMC单元启动低功率模式，在所述低功率模式中至少所述组合逻辑的操作电压被降低达预定时间段，并且

所述MBIST包装器电路从所述存储器中读取所述保持数据，并且基于所读取数据来确定所述存储器进行的数据的保持；

其中所述MBIST包装器电路包括被布置为形成第二扫描链的多个第二触发器，用于在扫描测试模式中初始化所述组合逻辑。

9.根据权利要求8所述的系统，其中所述扫描测试模式在系统操作电压下执行。

10.根据权利要求8所述的系统，其中所述MBIST包装器电路的所述第二触发器在用于将所述保持数据存储于所述存储器内的低功率扫描测试模式中被排除于所述触发器扫描链之外。

11.根据权利要求8所述的系统，其中所述组合逻辑的至少一部分与所述存储器耦接，使得与所述存储器的一个或多个连接在所述低功率模式中可操作于降低的操作电压下。

12.根据权利要求8所述的系统，还包括：状态保持功率门控SRPG单元，被布置为测试在所述低功率模式中的所述触发器扫描链进行的数据的保持。

13.根据权利要求8所述的系统，其中所述MBIST包装器电路输出指示在所述低功率模式中的所述存储器进行的数据的正确保持的信号。