[发明专利]负电压测量器件及方法有效
| 申请号： | 201410368133.4 | 申请日： | 2014-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN104422809B | 公开（公告）日： | 2018-08-10 |
| 发明（设计）人： | J·M·皮古特 | 申请（专利权）人： | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及负电压测量。本发明提供了一种使用包括了第一晶体管(12)和第二晶体管(14)的器件测量负电压的方法。第一晶体管耦合于第二晶体管并且负电压被提供给第二晶体管的栅极。多个电压被提供给器件(100)的源极输入。对于多个电压的每个电压，确定了跨第一晶体管的第一电压是否等于跨第二晶体管的第二电压，并且当跨第一晶体管的第一电压等于跨所述第二晶体管的第二电压的时候，通过测量器件的正电压大小来确定负电压。 | ||
| 搜索关键词： | 电压 测量 | ||
【主权项】：
1.一种使用包括第一晶体管和第二晶体管的器件测量负电压的方法，所述第一晶体管耦合于所述第二晶体管并且所述负电压被提供给所述第二晶体管的栅极，所述方法包括：将所述第一晶体管的源极的电压设置为第一电源电压；当所述第一晶体管的所述源极的所述电压被设置为所述第一电源电压并且通过所述第一晶体管的电流等于通过所述第二晶体管的电流时，将所述第一晶体管的第一源极‑漏极电压与所述第二晶体管的第二源极‑漏极电压进行比较；以及当所述第一晶体管的所述源极的所述电压被设置为所述第一电源电压并且所述第一晶体管的所述第一源极‑漏极电压等于所述第二晶体管的所述第二源极‑漏极电压并且通过所述第一晶体管的所述电流等于通过所述第二晶体管的所述电流时，通过确定所述器件的节点的电压来确定所述负电压的值。
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