[发明专利]选择性转移半导体元件的方法有效

专利信息
申请号: 201380077951.2 申请日: 2013-07-29
公开(公告)号: CN105359282B 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 吕志强;林俊宇;陈怡名;林敬倍;简崇训;黄建富;顾浩民;谢明勋;徐子杰 申请(专利权)人: 晶元光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种选择性分离半导体元件的方法,包含下列步骤a.提供一基板(101)具有第一表面(1011)及第二表面;b.提供多个半导体外延叠层位于第一表面(1011)上,其中任一多个半导体外延叠层包含第一半导体外延叠层(31)与第二半导体外延叠层(32),且第二半导体外延叠层(32)与第一半导体外延叠层(31)隔开,其中第一半导体外延叠层(31)与基板(101)之间的粘着力不同于第二半导体外延叠层(32)与基板(101)之间的粘着力;c.自基板(101)选择性地分离第一半导体外延叠层(31)或第二半导体外延叠层(32)。
搜索关键词: 选择性 转移 半导体 元件 方法
【主权项】:
一种选择性分离半导体元件的方法,包含下列步骤:a.提供一基板具有第一表面及第二表面;b.提供多个半导体外延叠层位于该第一表面上,其中任一该多个半导体外延叠层包含第一半导体外延叠层与第二半导体外延叠层,且该第二半导体外延叠层与该第一半导体外延叠层隔开,其中该第一半导体外延叠层与该基板之间的粘着力不同于该第二半导体外延叠层与该基板之间的粘着力;c.自该基板选择性地分离该第一半导体外延叠层或该第二半导体外延叠层。
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