[实用新型]一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器有效
| 申请号： | 201320531145.5 | 申请日： | 2013-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN203455447U | 公开（公告）日： | 2014-02-26 |
| 发明（设计）人： | 顾培东 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海君铁泰知识产权代理事务所(普通合伙) 31274 | 代理人： | 潘建玲 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及半导体测试领域，提供了一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器，其特征在于，包括：测试板，上方具有测试座；手动测试盖，固定在该测试板上，中间具有孔，露出该测试座；机械测试盖，与手摇臂相连接；支架，固定在该手动测试盖上。本实用新型有效解决了手动测试和自动测试不能同时使用，并且自动和手动之间转换速度慢的问题，并且具有设置时间短、节约时间、提高工作效率、降低成本、稳定性强、适合于任意产品的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 半导体 芯片 自动 测试 系统 能手 | ||
【主权项】：
一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器，其特征在于，包括： 测试板，上方具有测试座； 手动测试盖，固定在该测试板上，中间具有孔，露出该测试座； 弹簧杆、圆杆，都穿过支架，并且都与机械测试盖、手摇臂相连接； 支架，固定在该手动测试盖上。
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