[发明专利]一种硅微谐振式压力传感器芯体及制作方法有效
申请号: | 201310595320.1 | 申请日: | 2013-11-22 |
公开(公告)号: | CN103557967A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 吴亚林;金建东;王明伟;李玉玲;田雷;吴紫峰;刘智辉;王永刚 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十九研究所 |
主分类号: | G01L1/10 | 分类号: | G01L1/10;G01L9/06 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张宏威 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种硅微谐振式压力传感器芯体及制作方法,属于传感器领域,本发明为了避免使用硅-硅直接键合、硅片减薄等复杂技术,避免谐振子制作过程中引入较大的残余应力问题。本发明包括下层基片和上层基片,键合为一个整体;下层基片上设置谐振梁、压力敏感膜片、下层激励电极、压敏电阻和下层引线焊盘;谐振梁的上表面设置下层激励电极和压敏电阻,压力敏感膜片设置在谐振腔的底部;上层基片上设置有振动槽和上层激励电极;上层基片的下表面设置有振动槽,在振动槽的槽底表面覆有上层激励电极;上层基片下表面的凹槽与谐振梁所在谐振腔形成密闭空间,下层激励电极与上层激励电极的位置相对设置;下层基片选用SOI硅片;上层基片选用玻璃片。 | ||
搜索关键词: | 一种 谐振 压力传感器 制作方法 | ||
【主权项】:
一种硅微谐振式压力传感器芯体,采用静电激励/压阻检测为工作方式,其特征在于,它包括下层基片(1)和上层基片(2),下层基片(1)和上层基片(2)键合为一个整体;下层基片(1)上设置有谐振梁(1‑1)、压力敏感膜片(1‑2)、下层激励电极(1‑3)、压敏电阻(1‑4)和下层引线焊盘(1‑5);谐振梁(1‑1)的上表面设置有下层激励电极(1‑3)和压敏电阻(1‑4),下层激励电极(1‑3)和压敏电阻(1‑4)的引线均通过下层引线焊盘(1‑5)引出;压力敏感膜片(1‑2)设置在谐振梁(1‑1)所在谐振腔的底部;上层基片(2)上设置有振动槽(2‑1)和上层激励电极(2‑2);上层基片(2)的下表面设置有振动槽(2‑1),在振动槽(2‑1)的槽底表面覆有上层激励电极(2‑2);下层引线焊盘(1‑5)暴露接触外界;上层基片(2)下表面的凹槽与谐振梁(1‑1)所在谐振腔形成密闭空间,下层激励电极(1‑3)与上层激励电极(2‑2)的位置相对设置;下层基片(1)选用SOI硅片;上层基片(2)选用玻璃片。
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