[发明专利]离子源器件和方法有效
申请号: | 201310368729.X | 申请日: | 2013-08-22 |
公开(公告)号: | CN103632911B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | F.格宾 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01J37/08 | 分类号: | H01J37/08;C23C14/48 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 谢攀;刘春元 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 离子源器件和方法。离子源包括定义用于离子化的内部空腔的腔室,在内部空腔的第一端的电子束源,用于将可离子化的气体引入腔室的入口,以及用于从腔室中提取离子的弧形裂隙。所述腔室包括导电陶瓷。 | ||
搜索关键词: | 离子源 器件 方法 | ||
【主权项】:
一种离子源,包括:定义用于离子化的内部空腔的腔室;在包括至少一个电极的内部空腔的第一端的电子束源;用于将可离子化的气体引入腔室的入口;以及用于从腔室中提取离子的弧形裂隙;其中所述腔室包括导电陶瓷,用于降低所述腔室的剥离和剥离材料在所述电极上的随后的沉积。
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