[发明专利]一种在硅衬底上生长硒化铋单晶薄膜的方法及装置无效

专利信息
申请号: 201310336220.7 申请日: 2013-08-05
公开(公告)号: CN103400760A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 李含东;高磊;李辉;王高云;罗思源;任武洋;艾远飞;巫江;周志华;王志明 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L21/31 分类号: H01L21/31;C23C14/06;C23C14/54
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 梁田
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种在硅衬底上生长硒化铋单晶薄膜的方法,包含如下步骤:步骤1.对单晶硅表面做化学清洗并刻蚀钝化,得到硅衬底;步骤2.将Bi2Se3化合物和硅衬底分别放置于管式炉石英管中心区和第一管口,密封石英管并抽真空;步骤3.加热石英管中心区;步骤4.从石英管的第二管口通入惰性载气,开始生长薄膜;步骤5.薄膜生长完成后,停止通入氩气及加热,待石英管温度冷却后,再通入保护气充满石英管后,取出样品。及一种在硅衬底上生长硒化铋单晶薄膜的装置。本发明所述的在硅衬底上生长硒化铋单晶薄膜的方法及装置,采用物理气相输运沉积装置在常见的Si衬底上制备Bi2Se3单晶薄膜,操作简单、成本低廉,能制备出高质量的外延单晶薄膜。
搜索关键词: 一种 衬底 生长 硒化铋单晶 薄膜 方法 装置
【主权项】:
一种在硅衬底上生长硒化铋单晶薄膜的方法,其特征在于,包含如下步骤:步骤1.对单晶硅表面做化学清洗并刻蚀钝化,得到硅衬底;步骤2.将Bi2Se3蒸发源(12)和硅衬底(13)分别放置于管式炉石英管中心区和第一管口(14),密封石英管并抽真空;使其内部压降低于5帕;步骤3.加热石英管中心区;使中心区温度达到550‑600摄氏度;管口温度达到200‑250摄氏度;步骤4.从石英管的第二管口(15)通入惰性载气,开始生长薄膜;步骤5.薄膜生长完成后,停止通入氩气及加热,待石英管温度冷却后,再通入保护气充满石英管后,取出样品。
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