[发明专利]半导体存储器件有效

专利信息
申请号: 201310103506.0 申请日: 2013-03-28
公开(公告)号: CN103367369B 公开(公告)日: 2017-09-12
发明(设计)人: 全南镐;金俊秀;山田悟;李在训;韩升煜;金志永;李进成 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11517 分类号: H01L27/11517
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 陈源,张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 各半导体存储器件可以包括写入晶体管,其包括用于控制第一源极/漏极端子的第一写入栅极和用于控制沟道区的第二写入栅极;以及读取晶体管,其包括与所述写入晶体管的第一源极/漏极端子连接的存储节点栅极。所述第一写入栅极可以具有第一功函数,并且所述第二写入栅极可以具有与所述第一功函数不同的第二功函数。所述写入晶体管的第一源极/漏极端子可以不具有PN结。
搜索关键词: 半导体 存储 器件
【主权项】:
一种半导体存储器件,包括:写入晶体管,其包括用于控制第一源极/漏极端子的第一写入栅极和用于控制沟道区的第二写入栅极;以及读取晶体管,其包括与所述写入晶体管的第一源极/漏极端子连接的存储节点栅极,其中所述第一写入栅极具有第一功函数,并且所述第二写入栅极具有与所述第一功函数不同的第二功函数;并且其中所述写入晶体管的第一源极/漏极端子不具有PN结。
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