[发明专利]半导体存储装置和存储控制方法无效
申请号: | 201310053280.8 | 申请日: | 2009-09-14 |
公开(公告)号: | CN103151073A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 菅野伸一;浅野滋博;橘内和也;矢野浩邦;檜田敏克 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C11/56 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及半导体存储装置和存储控制方法。一种半导体存储装置包括:第一存储单元,其具有作为数据写入区域的多个第一块;指令单元,其发出将数据写入所述第一块中的写入指令;转换单元,其参考转换表将输入数据的外部地址转换成在所述第一块中的存储位置,在所述地址转换表中所述数据的外部地址与所述第一块中的所述数据的所述存储位置相关联;以及判断单元,其基于所述输入数据的所述存储位置而判断所述第一块中的任何块是否存储有效数据,其中当所述第一块中的任何块没有存储所述有效数据时,所述指令单元发出将数据写入其中没有存储所述有效数据的所述第一块中的写入指令。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体存储装置,包括:第一存储单元,其具有作为数据写入区域的多个第一块;指令单元,其发出将数据写入所述第一块中的写入指令;转换单元,其参考转换表而将输入数据的外部地址转换成在所述第一块中的存储位置,在所述转换表中所述数据的外部地址与所述第一块中的所述数据的所述存储位置相关联;以及判断单元,其基于所述输入数据的所述存储位置而判断存储在所述第一块中的所述有效数据的项的总数目,所述有效数据为与所述外部地址相关联的数据,其中当所述总数目小于预定的数目时,所述指令单元发出将数据写入其中没有存储有效数据的所述第一块中的写入指令。
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