[发明专利]具有半导体存储电路的半导体装置有效
| 申请号： | 201310014485.5 | 申请日： | 2013-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN103226982B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 中村孝志 | 申请（专利权）人： | 精工半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/46 | 分类号： | G11C29/46 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 李辉,黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供具有半导体存储电路的半导体装置，该半导体存储电路具备芯片面积小且能够在没有误动作的情况下切换为测试模式的模式切换电路。该半导体存储电路构成为具备追加了如下电路的模式切换电路数据比较电路，其检测对通信用的输入端子与用于通信以外的输入端子输入的串行信号相互处于反相关系的情况；解码器电路，其检测串行信号是预定数据的情况，并输出检测信号；控制信号产生电路，其产生控制信号；以及根据这些信号来输出切换为测试模式的信号的电路。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 半导体 存储 电路 装置 | ||
【主权项】：
一种具有半导体存储电路的半导体装置，该半导体存储电路具备输入时钟信号的时钟输入端子与输入数据信号的通信用的第1输入端子，其特征在于，该半导体装置具有模式切换电路，该模式切换电路具备：数据比较电路，其检测向所述第1输入端子与第2输入端子输入了彼此反相的数据信号的情况；第一解码器电路，其检测输入了所述数据信号中的第一数据信号的情况，根据所述数据比较电路的检测信号，输出检测信号；第二解码器电路，其检测输入了所述数据信号中的第二数据信号的情况，根据所述数据比较电路的检测信号以及所述第一解码器电路的检测信号，输出检测信号；以及接收所述第一解码器电路与所述第二解码器电路的检测信号而输出向测试模式转移的切换信号的电路。
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