[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201280076656.0 申请日: 2012-10-25
公开(公告)号: CN104756248A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 齐藤省二; 哈利德·哈桑·候赛因; 饭塚新 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/34 分类号: H01L23/34; H01L23/28
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 何立波; 张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明所涉及的半导体装置的特征在于具有:半导体元件,其具有上表面和下表面;金属板,其与该下表面进行了热连接;上表面电极,其被软钎焊于该上表面;绝缘片,其在该上表面电极之上,以与该上表面电极进行面接触的方式形成;屏蔽板,其在该绝缘片之上以与该绝缘片进行面接触的方式形成,屏蔽辐射噪声;以及树脂,其使该上表面电极的一部分、该屏蔽板的一部分、以及该金属板的下表面露出到外部,并覆盖该半导体元件,该绝缘片的热传导率比该树脂的热传导率高。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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