[实用新型]一种半导体分立器件测试系统有效
| 申请号： | 201220445842.4 | 申请日： | 2012-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN202770958U | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 张新华;张若煜 | 申请（专利权）人： | 绍兴文理学院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 绍兴市越兴专利事务所 33220 | 代理人： | 蒋卫东 |
| 地址： | 312000 浙江省绍兴*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型主要公开了一种半导体分立器件测试系统，包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统。各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上，总线通讯系统连接到主控平台系统中，主控平台系统连接显示系统，将测试结果数据加以显示。本实用新型是一种自由组合形式提供测试服务的测试平台，可根据用户的测试组态方案类选择各色各样测试功能的板卡，使用灵活方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 分立 器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体分立器件测试系统，其特征在于：包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统；各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上，总线通讯系统连接到主控平台系统中，主控平台系统连接显示系统，将测试结果数据加以显示。
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