[发明专利]一种片式封装分立器件测试装置有效
| 申请号： | 201210363300.7 | 申请日： | 2012-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102866318A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 邱云峰;袁文;杨晓宏;张文辉 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人： | 吴无惧 |
| 地址： | 550009 *** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种片式封装分立器件测试装置，它包括电极底板（1）、穿孔限位板（2）和压板（3），电极底板（1）置于底层，穿孔限位板（2）位于电极底板（1）上表面，压板（3）位于穿孔限位板（2）上表面；本发明解决了本发明具有结构简单、通用性强、安装方便等特点，不仅降低了表贴元器件小批量测试的成本，提高了测试效率，减少了测试误差，同时完成了被测器件数量的检查，解决了小批量片式封装分立器件测试的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 封装 分立 器件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种片式封装分立器件测试装置，其特征在于：它包括电极底板（1）、穿孔限位板（2）和压板（3），电极底板（1）置于底层，穿孔限位板（2）位于电极底板（1）上表面，压板（3）位于穿孔限位板（2）上表面。
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