[发明专利]具有低正向偏置集成二极管的高电子迁移率晶体管有效
| 申请号： | 201210298164.8 | 申请日： | 2012-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN102956697A | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 吉贝托·库拉托拉;奥利弗·黑贝伦 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技奥地利有限公司 |
| 主分类号： | H01L29/778 | 分类号： | H01L29/778;H01L29/10 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种具有低正向偏置集成二极管的高电子迁移率晶体管。其中，该高电子迁移率晶体管包括：源极；栅极；漏极；具有二维电子气（2DEG）的第一III-V族半导体区，该二位电子气提供在源极和漏极之间的、由栅极控制的第一导电沟道；以及在第一III-V族半导体区下方并具有连接至源极或漏极且不由栅极控制的第二导电沟道的第二III-V族半导体区。第一和第二III-V族半导体区由具有不同于第一和第二III-V族半导体区带隙的高电子迁移率晶体管区将其互相隔开。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 正向 偏置 集成 二极管 电子 迁移率 晶体管 | ||
【主权项】：
一种高电子迁移率晶体管，包括：源极、栅极和漏极；具有二维电子气（2DEG）的第一III‑V族半导体区，所述二维电子气（2DEG）提供所述源极和漏极之间的、能够由所述栅极控制的第一导电沟道；第二III‑V族半导体区，在所述第一III‑V族半导体区下方并具有连接至所述源极或漏极且不能够由所述栅极控制的第二导电沟道；以及其中，所述第一和第二III‑V族半导体区由所述高电子迁移率晶体管的、具有不同于所述第一和第二III‑V族半导体区的带隙的区彼此分隔开。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技奥地利有限公司，未经英飞凌科技奥地利有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210298164.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
