[发明专利]一种化合物半导体晶圆结构有效

专利信息
申请号: 201210195095.8 申请日: 2012-06-13
公开(公告)号: CN103489860A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 林正国;李思儒;许荣豪;蔡绪孝 申请(专利权)人: 稳懋半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/06
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明关于一种化合物半导体晶圆结构,包含一基板、一n型场效晶体管磊晶结构,一n型掺杂蚀刻终止层、一p型插入层以及一npn异质接面双极晶体管磊晶结构,可用以制作场效晶体管、异质接面双极晶体管或门流管晶体管。
搜索关键词: 一种 化合物 半导体 结构
【主权项】:
一种化合物半导体晶圆结构,整合一场效晶体管、一异质接面双极晶体管以及一闸流管晶体管的磊晶结构,依序包含:一基板;一场效晶体管磊晶结构,位于该基板之上,包含:一通道层,以及一n型掺杂层位于该通道层之上;一n型掺杂蚀刻终止层;一p型插入层,位于该n型掺杂蚀刻终止层之上;以及一异质接面双极晶体管结构,位于该p型插入层之上,包含:一次集极层,为一n型掺杂层,一集极层,位于该次集极层之上,为一n型掺杂层,一基极层,位于该集极层之上,为一p型掺杂层,以及一射极层,位于该基极层之上,为一n型掺杂层;其中该场效晶体管磊晶结构、该n型掺杂蚀刻终止层、该p型插入层以及该异质接面双极晶体管磊晶结构的次集极层、集极层与基极层构成一闸流管晶体管磊晶结构。
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