[发明专利]绝缘栅双极型晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201110388471.0 | 申请日: | 2011-11-29 |
公开(公告)号: | CN102394244B | 公开(公告)日: | 2017-07-11 |
发明(设计)人: | 苟鸿雁 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L21/331 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种绝缘栅双极型晶体管及其制造方法。本发明的绝缘栅双极型晶体管包括集电极、漂移区、发射极以及栅极;其中,在所述发射极中布置了沟槽填充区域,所述沟槽底部位于漂移区,且靠近发射极与漂移区的PN结处,所述沟槽填充区域中自底部到顶部依次填充了氧化物、多晶硅以及金属,所述金属形成了沟槽电极;并且所述沟槽电极与所述发射极相连接。根据本发明,当沟槽电极接地,最下端的集电极电极接正电压时,在N型的漂移区与垂直的旁路氧化硅界面处会反型出空穴,因此与传统的结构相比,可以提高发射结处的空穴浓度;因此在开态时,在集电极上加正压扫描时,会有更多的空穴参与导电,从而提高了绝缘栅双极型晶体管开态时的电导率。 | ||
搜索关键词: | 绝缘 栅双极型 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种绝缘栅双极型晶体管,其包括:集电极、漂移区、发射极以及栅极;其特征在于,在所述发射极中布置了沟槽填充区域,并且所述沟槽填充区域的底部位于漂移区,且靠近发射极与漂移区的PN结处;所述沟槽填充区域中自底部到顶部依次填充了氧化物、多晶硅以及金属,所述氧化物是氧化硅,所述金属形成了沟槽电极;并且所述沟槽电极与所述发射极相连接。
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