[发明专利]DMOS器件及其制造方法有效
| 申请号： | 201110338198.0 | 申请日： | 2011-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103094111A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 万颖 | 申请（专利权）人： | 无锡华润上华科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/336 | 分类号： | H01L21/336;H01L21/60;H01L29/78 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮;李辰 |
| 地址： | 214028 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种DMOS器件制造方法，包括：提供基底，包括有源区和位于有源区表面上的层间介质ILD层，其中，位于有源区表面上的ILD层内具有钨塞，所述ILD层表面和所述钨塞表面平齐；去除掉预设厚度的ILD层材料，以使ILD层和所述钨塞表面具有高度差。本发明通过在形成钨塞之后，增加了对ILD层的回刻过程，使得钨塞表面和ILD层表面不再齐平，从而使源区部位和栅区部位表面的金属区域也不再平齐，使得栅区表面的金属区域与区表面的金属区域的反光能力不同，在进行识别时，识别光束打到产品晶片上后，栅区和源区存在色差，从而能够通过色差清楚的识别DMOS器件的栅区和源区，提高了后续引线键合过程的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | dmos 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种DMOS器件制造方法，其特征在于，包括：提供基底，所述基底包括有源区和位于所述有源区表面上的层间介质ILD层，其中，位于有源区表面上的ILD层内具有钨塞，所述ILD层表面和所述钨塞表面平齐；去除掉预设厚度的ILD层材料，以使ILD层和所述钨塞表面具有高度差。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
