[发明专利]P型一次性可编程器件结构有效

专利信息
申请号: 201110335056.9 申请日: 2011-10-28
公开(公告)号: CN103094282A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 刘梅;黄景丰 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;G11C17/08
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王江富
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种P型一次性可编程器件结构,在硅片上形成有N型阱,在N型阱上从左到右依序形成有第一P型重掺杂区、第二P型重掺杂区、第三P型重掺杂区,第一P型重掺杂区同第二P型重掺杂区之间的N型阱上及第二P型重掺杂区同第三P型重掺杂区之间的N型阱上分别形成有栅氧,第一P型重掺杂区同第二P型重掺杂区之间的栅氧之上形成有存储管栅极多晶硅,第二P型重掺杂区同第三P型重掺杂区之间的栅氧之上形成有选通管栅极多晶硅,所述存储管栅极多晶硅上方形成有一导电层,所述导电层同所述存储管栅极多晶硅之间有介质层。本发明的P型一次性可编程器件结构,提高了编程完之后整个器件的导通电流,并增加器件在编程前后可区分的电流范围。
搜索关键词: 一次性 可编程 器件 结构
【主权项】:
一种P型一次性可编程器件结构,在硅片上形成有N型阱,在N型阱上从左到右依序形成有第一P型重掺杂区、第二P型重掺杂区、第三P型重掺杂区,第一P型重掺杂区同第二P型重掺杂区之间的N型阱上及第二P型重掺杂区同第三P型重掺杂区之间的N型阱上分别形成有栅氧,第一P型重掺杂区同第二P型重掺杂区之间的栅氧之上形成有存储管栅极多晶硅,第二P型重掺杂区同第三P型重掺杂区之间的栅氧之上形成有选通管栅极多晶硅,其特征在于,所述存储管栅极多晶硅上方形成有一导电层,所述导电层同所述存储管栅极多晶硅之间有介质层。
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