[发明专利]干法刻蚀设备反应腔的上部电极无效
申请号: | 201010596332.2 | 申请日: | 2010-12-20 |
公开(公告)号: | CN102543644A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 李顺义 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01J37/04;H01L21/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种干法刻蚀设备反应腔的上部电极,采用碳、碳化硅、硅、和/或石英材料制造,在所述上部电极内部嵌入金属,或者在所述上部电极表面覆盖金属。本发明可以减少或避免反应生成物粘附在上部电极周围,延长上部电极使用寿命,加快刻蚀速率。 | ||
搜索关键词: | 刻蚀 设备 反应 上部 电极 | ||
【主权项】:
一种干法刻蚀设备反应腔的上部电极,采用碳、碳化硅、硅、和/或石英材料制造,其特征是,在所述上部电极内部嵌入金属,或者在所述上部电极表面覆盖金属。
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