[发明专利]检测半导体存储装置中的干扰存储单元的装置及方法有效
| 申请号： | 201010296772.6 | 申请日： | 2010-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN102420012A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | 洪俊雄;林政宽;张坤龙 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/06 | 分类号： | G11C16/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测半导体存储装置中干扰存储单元的装置及方法。该检测一存储单元干扰情况的方法，包含施加多个阵列条件至该存储单元且决定该存储单元响应多个阵列条件时是否具有一编程存储单元的行为。假如该存储单元会对该组条件响应为被编程而在另一组条件响应为被擦除，则识别该存储单元为受干扰的存储单元。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 半导体 存储 装置 中的 干扰 单元 方法 | ||
【主权项】：
一种检测一具有一参考单元的存储装置中的一选取存储单元干扰情况的方法，其特征在于，该方法包含：施加一第一组条件至该选取存储单元及该参考单元，该第一组条件是适合检测该选取存储单元是否被编程；施加一第二组条件至该选取存储单元及该参考单元，该第二组条件是适合检测该选取存储单元是否被编程，且该第二组条件与该第一组条件不同；以及假如该选取存储单元仅会对该第一组或第二组条件之一响应而被编程，识别该选取存储单元具有该干扰情况。
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