[发明专利]验证闪存器件的方法有效
申请号: | 200710007524.3 | 申请日: | 2007-02-01 |
公开(公告)号: | CN101071640A | 公开(公告)日: | 2007-11-14 |
发明(设计)人: | 李珉圭 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06;G11C16/04;G11C29/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 杨生平;杨红梅 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 一种验证闪存器件的方法,包括:将分别连接到偶数位线和奇数位线的存储器单元串放电;接着,将电压施加到分别连接到偶数位线和奇数位线的存储器单元串,从而对存储器单元串进行预充电;通过对连接到偶数位线的每个存储器单元串的状态进行感测将连接到偶数位线的存储器单元串验证为被擦除;以及通过对连接到奇数位线的存储器单元串的状态进行感测将连接到奇数位线的每个存储器单元串验证为被擦除。 | ||
搜索关键词: | 验证 闪存 器件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种验证闪存器件的方法,包括:将分别连接到偶数位线和奇数位线的存储器单元串放电;将电压施加到分别连接到所述偶数位线和所述奇数位线的所述存储器单元串,从而对所述存储器单元串预充电;通过对连接到所述偶数位线的所述存储器单元串的状态进行感测来验证连接到所述偶数位线的每个存储器单元串是否已经被擦除;通过对连接到所述奇数位线的所述存储器单元串的状态进行感测来验证连接到所述奇数位线的每个存储器单元串是否已经被擦除。
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