[发明专利]晶片搬运设备的校正装置与晶片搬运设备的校正方法无效

专利信息
申请号: 200610093847.4 申请日: 2006-06-20
公开(公告)号: CN101092034A 公开(公告)日: 2007-12-26
发明(设计)人: 吴展村;林瑞良 申请(专利权)人: 力晶半导体股份有限公司
主分类号: B25J9/22 分类号: B25J9/22
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种晶片搬运设备的校正装置,包括反射元件、取像模块、图像处理模块与屏幕。其中,反射元件配置于晶片承载装置旁,取像模块配置于反射元件反射光线的光学路径上。反射元件适于将晶片承载装置内的图像反射至取像模块,而取像模块适于撷取晶片承载装置内的图像。图像处理模块耦接至取像模块,并且当搬运装置伸入晶片承载装置内时,图像处理模块适于分析取像模块所撷取到的图像,以判断搬运装置的位置是否正常。之后,再根据分析的结果调整搬运装置的位置,如此可精确又实时地调整搬运装置的位置。
搜索关键词: 晶片 搬运 设备 校正 装置 方法
【主权项】:
1、一种晶片搬运设备的校正装置,适于对晶片搬运设备进行校正,其中该晶片搬运设备包括搬运装置,其适于将多个晶片搬离或置入晶片承载装置的多个容置槽中,而该晶片搬运设备的校正装置包括:反射元件,配置于该晶片承载装置旁;取像模块,配置于该反射元件反射光线的光学路径上,其中该反射元件适于将该晶片承载装置内的图像反射至该取像模块,而该取像模块适于撷取该晶片承载装置内的该图像;图像处理模块,耦接至该取像模块,其中当该搬运装置伸入该晶片承载装置内时,该图像处理模块适于分析该取像模块所撷取到的该图像,以判断该搬运装置的位置是否正常;以及屏幕,耦接至该取像模块,以显示该取像模块所撷取到的该图像。
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