[发明专利]半导体装置及其制造方法、电光装置及其制造方法和电子设备有效
申请号: | 200510069239.5 | 申请日: | 2005-05-12 |
公开(公告)号: | CN1697128A | 公开(公告)日: | 2005-11-16 |
发明(设计)人: | 森胁稔 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/84;H01L21/336;H01L21/768;G09F9/30;G02F1/133 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 李峥;于静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的半导体装置的制造方法包括:在基板上形成多个导电层的工序;分别形成多个层间绝缘层的工序;对于多个层间绝缘层之中的下部层间绝缘层和上部层间绝缘层,形成贯通上部层间绝缘层到达下部层间绝缘层内的第1孔并且至少将位于第1孔内的上部层间绝缘层和下部层间绝缘层的界面的侧壁的一部分利用干蚀刻法形成的工序;形成至少将上述界面覆盖的保护膜的工序;通过形成了保护膜的第1孔使用蚀刻法形成贯通下部层间绝缘层的第2孔而形成接触孔的工序;以及通过接触孔将下部导电层和上部导电层相互电连接的工序。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 电光 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置的制造方法,其特征在于,包括:在基板上形成多个导电层的工序;以将上述多个导电层之中在上述基板上相对地在下层侧形成的下部导电层和相对地在上层侧形成的上部导电层间进行层间绝缘的方式分别形成多个层间绝缘层的工序;对于上述多个层间绝缘层之中相对地在下层侧形成的下部层间绝缘层和相对地在上层侧形成的上部层间绝缘层,形成贯通上述上部层间绝缘层到达上述下部层间绝缘层内的第1孔并且至少将位于上述第1孔内的上述上部层间绝缘层和上述下部层间绝缘层的界面的侧壁的一部分利用干蚀刻法形成的工序;形成将上述侧壁之中至少位于上述界面的一部分覆盖的保护膜的工序;通过形成了上述保护膜的上述第1孔使用蚀刻法形成贯通上述下部层间绝缘层的第2孔而形成到达位于上述下部层间绝缘层的下层的上述下部导电层的表面的接触孔的工序;以及通过上述形成的接触孔将上述下部导电层和上述上部导电层相互电连接的工序。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510069239.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造