专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于单元设计的混合扩散中断-CN202180062629.7在审
  • D·D·谢勒卡尔;V·莫洛兹;J·卡瓦 - 美商新思科技有限公司
  • 2021-09-13 - 2023-09-05 - G06F111/20
  • 使用包括混合扩散中断的单元(101,111)来设计集成电路布局(100)。每个单元(101,111)具有第一边缘和第二边缘(102,103),其中第二边缘与第一边缘相对。单元具有跨越在单元的第一边缘与第一扩散中断的边缘之间的第一虚拟晶体管。第一扩散中断可以位于第一虚拟晶体管(105a)下方的中心。第一虚拟晶体管(105a)和第一扩散中断可以形成单扩散中断。附加地,单元具有跨越在单元的第二边缘与第二扩散中断的边缘之间的第二虚拟晶体管(105b)。第二虚拟晶体管(105b)可以跨越栅极间距的一半的距离进入单元并且以第二边缘上为中心。第二虚拟晶体管和第二扩散中断可以形成双扩散中断。
  • 用于单元设计混合扩散中断
  • [发明专利]通过纳米线自加热来提高存储器良品率和集成电路性能-CN201780027080.1有效
  • J·卡瓦;V·莫洛兹 - 美商新思科技有限公司
  • 2017-06-29 - 2022-12-30 - G11C29/44
  • 一种用于改进具有晶体管的集成电路设计的方法,该晶体管具有纳米线沟道,该方法包括:标识具有特定晶体管的特定器件,该特定晶体管具有纳米线沟道;以及向集成电路设计添加电路系统,该电路系统在被激活时通过自加热来修复特定晶体管。该方法可以包括:确定具有低于通过标准的读取电流的存储器单元,存储器单元在读取电流流过的电流路径上具有晶体管,该晶体管具有纳米线沟道;以及对存储器单元施加应力,以在电流路径上修复存储器单元中的晶体管的纳米线沟道。确定步骤可以包括:感测存储器单元的阵列中的存储器单元的读取电流;以及使用所感测的读取电流来确定存储器单元的阵列中的、具有低于通过标准的读取电流的一个或多个存储器单元。
  • 通过纳米加热提高存储器良品率集成电路性能
  • [发明专利]衬底和具有3D几何图形上的2D材料沟道的晶体管-CN201680039906.1有效
  • V·莫洛兹;J·黄;J·卡瓦 - 美商新思科技有限公司
  • 2016-06-08 - 2021-08-31 - H01L29/78
  • 粗略地描述,晶体管形成有共形地包裹在3D结构的至少一部分上的半导体2D材料层。所述3D结构可以是例如由电介质材料制成或者由与半导体或传导材料纵向交替的电介质材料制成的脊。可替代地,所述3D结构可以是树形。其他形状也是可能的。各方面还包括用于制造此类结构的方法、以及限定此类结构的集成电路布局和用于开发此类布局的方法、存储包括限定此类结构和布局的一些设计条目的设计条目的机器可读数据存储介质、用于开发此类设计条目的方法。各方面还包括被制备为用于制造集成电路中的中间产品的皱褶状晶片,所述集成电路具有共形地设置在3D结构上的半导体2D材料层。
  • 衬底具有几何图形材料沟道晶体管
  • [发明专利]N沟道和P沟道FINFET单元架构-CN201710094116.X有效
  • J·卡瓦;V·莫洛兹;D·谢勒卡 - 美商新思科技有限公司
  • 2012-07-23 - 2021-08-10 - H01L29/78
  • 一种适合用于标准单元库的finFET块架构,该finFET块架构基于如下布置,该布置包括在衬底的具有第一传导性类型的第一区域中的第一半导体鳍集合和在衬底的第二区域中的第二半导体鳍集合,第二区域具有第二传导性类型。被布置于第一和第二半导体鳍集合之上的包括在第一和第二区域中的栅极迹线的图案化的栅极导体层用于晶体管栅极。在栅极导体层之上的图案化的导体层布置于正交布图图案中并且可以包括在第一和第二区域中的鳍之上的多个浮动功率总线。
  • 沟道finfet单元架构
  • [发明专利]物联网(IoT)电力和性能管理技术和电路方法-CN201680043113.7在审
  • J·卡瓦;T·恩古耶 - 辛奥普希斯股份有限公司
  • 2016-07-19 - 2018-05-11 - H03K19/017
  • 在物联网(IoT)设备内降低能量消耗,而不降低相应内部电路系统的操作性能。用于供应所述内部电路系统的第一内部供应电压(VDDa)在空闲状态期间从VDD供应电压降低至更低的电压,从而减少了所述内部电路系统中的泄漏电流。所述第一内部供应电压(VDDa)可以降低至比所述VDD供应电压低一个阈值电压(Vtp)的电压。用于供应所述内部电路系统的第二内部供应电压(VSSa)在所述空闲状态期间从VSS供应电压增加到高于所述VSS供应电压的电压,从而进一步减少了所述内部电路系统中的泄漏电流。所述第二内部供应电压(VSSa)可以增加到比所述VSS供应电压高一个阈值电压(Vtn)的电压。
  • 联网iot电力性能管理技术电路方法
  • [发明专利]N沟道和P沟道FINFET单元架构-CN201280046926.3有效
  • J·卡瓦;V·莫洛兹;D·谢勒卡 - 美商新思科技有限公司
  • 2012-07-23 - 2014-05-28 - H01L29/78
  • 一种适合用于标准单元库的finFET块架构,该finFET块架构基于如下布置,该布置包括在衬底的具有第一传导性类型的第一区域中的第一半导体鳍集合和在衬底的第二区域中的第二半导体鳍集合,第二区域具有第二传导性类型。被布置于第一和第二半导体鳍集合之上的包括在第一和第二区域中的栅极迹线的图案化的栅极导体层用于晶体管栅极。在栅极导体层之上的图案化的导体层布置于正交布图图案中并且可以包括在第一和第二区域中的鳍之上的多个浮动功率总线。
  • 沟道finfet单元架构

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