专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]3D NAND闪存的读取方法-CN201810864131.2有效
  • 刘红涛;靳磊;黄莹;魏文喆;王启光 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2018-08-01 - 2022-11-08 - G11C16/26
  • 本发明涉及一种3D NAND闪存的读取方法,所述3D NAND闪存包括在三维空间内阵列排布的多个存储单元,构成多个存储串,每一个存储串的顶部的晶体管为上选择管,所述上选择管连接至位线,存储串底部的晶体管为下选择管,位于同一层内的多个存储单元组成存储行,位于同一存储行内的存储单元的栅极均连接至同一字线,待读取存储单元所在的存储串作为选中串,其特征在于,所述读取方法包括依次进行的预导通阶段和读取阶段步骤,其中,在所述预导通阶段中对位线施加持续的预充电压;同时,导通选中串的上选择管和非选中串的上选择管,关断选中串的下选择管和非选中串的下选择管。
  • nand闪存读取方法
  • [发明专利]存储器、系统以及存储器的操作方法-CN202210406573.9在审
  • 魏文喆;刘红涛 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2022-04-18 - 2022-08-30 - G11C16/34
  • 本申请公开了一种存储器、系统以及存储器的操作方法,属于存储技术领域。存储器通过在存储串中第一堆栈的编程阶段之后,向存储串的一端施加第一电压,分别向存储串的第一选择管和第二选择管分别施加第二电压和第三电压,使得第一选择管和第二选择管导通,向第一堆栈的存储单元施加第四电压,使得第一堆栈的存储单元导通,向存储串中第二堆栈的存储单元施加第五电压,使得第二堆栈的存储单元不导通,以对该存储串的沟道进行放电,在放电过程中,由于存储串中的一部分存储单元处于导通状态,另一部分存储的单元处于未导通状态,能够降低放电过程中沟道内的电流,减少第二堆栈中存储单元的热载流子注入,降低了对第二堆栈的存储单元的干扰。
  • 存储器系统以及操作方法
  • [发明专利]3D NAND存储器及其抑制顶层存储层编程串扰的方法-CN202110544236.1有效
  • 李达;许锋;魏文喆;贾信磊;刘红涛;王明 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-03-26 - 2022-07-05 - G11C16/34
  • 一种3D NAND存储器及其抑制顶层存储层编程串扰的方法,包括:提供述3D NAND存储器,3D NAND存储器包括:若干层堆叠的存储层和位于存储层上的伪存储层,若干层堆叠的存储层中最上面的一层存储层为顶层存储层,与顶层存储层相邻的为底层伪存储层,每一层存储层中具有若干存储单元,每一层伪存储层中具有若干伪存储单元,最底层的存储层与半导体衬底之间具有下选择晶体管,最顶层的伪存储层上还具有上选择晶体管;在对所述顶层存储层中某一个存储单元进行编程时,将所述顶层存储层与所述底层伪存储层分别对应的控制栅施加相同的编程电压;在进行编程时,所述上选择晶体管打开,下选择晶体管关闭。本发明的方法防止顶层存储层的编程串扰。
  • nand存储器及其抑制顶层存储编程方法
  • [发明专利]存储装置及其编程操作-CN202180003799.8在审
  • 刘红涛;黄德佳;魏文喆;黄莹 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-10-30 - 2022-03-11 - G11C16/30
  • 在某些方面,一种存储装置包括存储串以及耦合到存储串的外围电路,每个存储串包括漏极选择栅极(DSG)晶体管和存储单元。外围电路被配置为在编程/验证周期中对存储串的选择的存储串中的存储单元中的目标存储单元进行编程,并且在对目标存储单元进行编程之后,使用包括初始验证电压的一个或多个验证电压来验证目标存储单元。外围电路还被配置为将初始验证电压与阈值验证电压进行比较以获得比较结果,并且在对目标存储单元的编程和验证之间,至少基于该比较结果来控制存储串的未选择的存储串中的DSG晶体管。
  • 存储装置及其编程操作
  • [发明专利]3D存储器件及其数据操作方法-CN202111342761.1在审
  • 刘红涛;黄莹;魏文喆;王明;王启光 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-03-25 - 2022-03-04 - G11C5/02
  • 本申请公开了一种3D存储器件的数据操作方法,3D存储器件具有沿垂直于衬底的方向排列的多个存储单元串,每个存储单元串包括第一选择晶体管、第一伪存储单元、多个主存储单元、第二伪存储单元和第二选择晶体管,包括:接收擦除指令;根据擦除指令对第一伪存储单元、多个主存储单元以及第二伪存储单元执行擦除操作;在擦除操作结束后验证多个主存储单元是否擦除成功;当多个主存储单元擦除成功时,接收编程指令;根据编程指令对第一伪存储单元和第二伪存储单元执行编程操作。本申请通过对伪存储单元和存储单元同时擦除,然后再对伪存储单元进行编程,提高边缘存储单元的擦除效率,减少擦除次数,提高存储单元的可靠性。
  • 存储器件及其数据操作方法
  • [发明专利]3D存储器件及其数据操作方法-CN201910229050.X有效
  • 刘红涛;黄莹;魏文喆;王明;王启光 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-03-25 - 2021-11-16 - G11C5/02
  • 本申请公开了一种3D存储器件的数据操作方法,3D存储器件具有沿垂直于衬底的方向排列的多个存储单元串,每个存储单元串包括第一选择晶体管、第一伪存储单元、多个主存储单元、第二伪存储单元和第二选择晶体管,包括:接收擦除指令;根据擦除指令对第一伪存储单元、多个主存储单元以及第二伪存储单元执行擦除操作;在擦除操作结束后验证多个主存储单元是否擦除成功;当多个主存储单元擦除成功时,接收编程指令;根据编程指令对第一伪存储单元和第二伪存储单元执行编程操作。本申请通过对伪存储单元和存储单元同时擦除,然后再对伪存储单元进行编程,提高边缘存储单元的擦除效率,减少擦除次数,提高存储单元的可靠性。
  • 存储器件及其数据操作方法
  • [发明专利]三维存储器及其控制方法-CN202110004038.6有效
  • 刘红涛;黄德佳;蒋颂敏;黄莹;魏文喆 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-01-04 - 2021-09-24 - G11C16/26
  • 本发明涉及一种三维存储器及其控制方法,该方法包括:在编程操作中,选择一个存储块中的至少一条字线作为目标字线,向目标字线对应的目标存储单元中写入预定数据;在读操作中,利用多个读取电压组分别读取目标字线以外的非目标字线对应的非目标存储单元,以确定非目标存储单元的最优读取电压组,同时记录目标存储单元的阈值电压分布的漂移量,建立最优读取电压组和漂移量的对应关系,其中,每个读取电压组中包括针对非目标存储单元的多个编程态的多个读取电压;以及利用第一读取电压读取目标存储单元中的预定数据,记录目标存储单元的阈值电压分布的漂移量,根据最优读取电压组和漂移量的对应关系确定存储单元阵列的最优读取电压组。
  • 三维存储器及其控制方法

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