专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]使用基于钽合金的溅射靶的增强晶种层的淀积-CN200610071716.6无效
  • 阿纳尔班·达斯;迈克尔·吉恩·拉辛 - 黑罗伊斯公司
  • 2006-03-16 - 2007-05-09 - G11B5/66
  • 用于磁性记录介质的晶种层,通过含钽(Ta)和成合金元素的溅射靶在衬底上形成该晶种层。体心立方钽(Ta)相中成合金元素的室温溶解度不超过10原子百分数,且成合金元素的质磁率小于或等于1.5×10-7m3/kg。或者,成合金元素在室温或高温下溶于钽(Ta),成合金元素的质磁率小于或等于1.5×10-7m3/kg,且成合金元素的原子半径小于1.47。再或者,体心立方钽(Ta)相中成合金元素的室温溶解度不超过10原子百分数,成合金元素的质磁率小于或等于1.5×10-7m3/kg,成合金元素在高于室温的温度下溶于钽(Ta),且成合金元素的原子半径小于1.47。
  • 使用基于合金溅射增强晶种层
  • [发明专利]用于薄膜的增强型氧非理想配比补偿-CN200510120336.2有效
  • 迈克尔·吉恩·拉辛;阿尼尔班·达斯;史蒂文·罗格·肯尼迪;程远达 - 黑罗伊斯有限公司
  • 2005-11-08 - 2006-12-27 - C23C14/34
  • 一种制造磁记录介质的方法,包括步骤:由溅射靶在衬底上反应性或非反应性地溅射至少第一数据存储薄膜层。溅射靶包括:钴(Co)、铂(Pt)、包括第一金属和氧(O)的第一金属氧化物以及非反应性溅射时的第二金属氧化物。第一数据存储薄膜层包括钴(Co)、铂(Pt)、包括第一金属和氧(O)的理想化学配比的第三金属氧化物。在溅射过程中,第一数据存储薄膜层中第三金属氧化物的任何非理想化学配比通过使用溅射靶中第二金属氧化物的氧(O)或者使用富氧气氛中的氧(O)来补偿。第一金属从硼(B)、硅(Si)、铝(Al)、钽(Ta)、钕(Nb)、铪(Hf)、锆(Zr)、钛(Ti)、锡(Sn)、镧(La)、钨(W)、钴(Co)、钇(Y)、铬(Cr)、铈(Ce)、铕(Eu)、钆(Gd)、钒(V)、钐(Sm)、镨(Pr)、锰(Mn)、铱(Ir)、铼(Re)、镍(Ni)和锌(Zn)中选取。溅射靶还包括铬(Cr)和/或硼(B)。
  • 用于薄膜增强型氧非理想配比补偿
  • [发明专利]用于改进的磁性层的溅射靶材料-CN200510097876.3无效
  • 程远达;史蒂文·罗杰·肯尼迪;迈克尔·吉恩·拉辛 - 黑罗伊斯有限公司
  • 2005-09-01 - 2006-03-08 - C23C14/34
  • 本发明涉及一种由具有基底金属的铁磁性合金与金属X构成的溅射靶,其中金属X为具有小于0.266nm的原子直径以及高于基底金属的氧化电位的金属。基底金属可以为Fe、Co,或者其它任何铁磁性材料,并且可进一步由例如Pt、Ta和/或Cr构成以增强其矫顽磁性。金属X可为从由Al、Ba、Be、Ca、Cd、Ce、Cr、Cs、Dy、Er、Eu、Ga、Gd、Hf、Ho、K、La、Li、Mg、Mn、Na、Nb、Nd、Pm、Pr、Rb、Sc、Sm、Sr、Ta、Tb、Te、Th、Ti、V、Y、Zn和Zr所构成的组中选择的金属。该溅射靶可包括高于0并且低于15原子百分数的金属X。对该溅射靶进行反应溅射以形成具有优化的晶粒尺寸以及晶间间隔的粒状介质。
  • 用于改进磁性溅射材料
  • [发明专利]改善的磁记录介质的晶粒结构-CN200410057792.2无效
  • 程远达;史蒂文·罗格·肯尼迪;迈克尔·吉恩·拉辛 - 黑罗伊斯有限公司
  • 2004-08-19 - 2005-11-16 - G11B5/66
  • 一种制造磁记录介质的方法。该方法包括如下步骤:在衬底上面溅射至少第一下面层,其中该第一下面层包括铬基合金,以及在该第一下面层上面溅射至少第一中间层,其中该第一中间包括钴基合金。该方法还包括下述步骤:在该第一中间层上面溅射至少第一上面层,其中该第一上面层包括钴基合金。该第一下面层,该第一中间层和/或该第一上面层中的至少一层掺杂有X,其中,X是氧化电位小于-0.6电子伏特的金属。该第一下面层,该第一中间层和/或该第一上面层中的至少一层是在有氧的情况下反应性地溅射成的。
  • 改善记录介质晶粒结构

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