专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种磁流变弹性体及其制备方法和应用-CN202111058349.7有效
  • 路家斌;胡达;熊强;阎秋生;杜灿林 - 广东工业大学
  • 2021-09-09 - 2023-07-07 - B24B1/00
  • 本发明公开了一种磁流变弹性体及其制备方法和应用。磁流变弹性体,按重量分数计,包括如下组分:聚氨酯预聚体30~70份,磁性粒子30~60份,磨粒2~20份,发泡剂2~5份,增塑剂3~6份,扩链交联剂1~6份,催化剂0.03~0.07份,其中,磁性粒子为羰基铁粉和/或四氧化三铁。本发明以磁性粒子作为载体,在预结构化过程中的定向磁场作用下,形成与磁场线方向一致的磁链串将磨料、发泡剂等物质夹持在磁链串内,硫化后最终形成磁性粒子、磨粒和气孔定向排布且能够发生固相芬顿反应的磁流变弹性体,可运用于硬脆光电材料研磨、抛光加工,有效的提高了加工效率,能够实现粗精抛光同步实现,获得高质量的加工表面。
  • 一种流变弹性体及其制备方法应用
  • [发明专利]一种半导体晶片磁控研磨和抛光一体盘及其使用方法-CN202210769741.0有效
  • 熊强;路家斌;阎秋生;骆应荣;胡达 - 广东工业大学
  • 2022-07-01 - 2023-04-28 - B24B1/00
  • 本发明涉及超精密抛光技术领域,更具体地,涉及一种半导体晶片磁控研磨和抛光一体盘及其使用方法,包括金属基体、若干磁流变弹性体、磁场发生装置、磁场隔离板、底座,若干磁流变弹性体均装设于所述金属基体中,所述磁场发生装置装设于所述底座且位于磁流变弹性体下方,所述磁场隔离板可拆卸安装于金属基体与底座之间,金属基体与底座可拆卸连接。本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种半导体晶片磁控研磨和抛光一体盘,可实现一个工具盘能够满足晶片研磨和抛光两种工艺要求,在确保研磨质量与抛光质量的同时,可有效地减小更换工具盘和工件安装的时间,实现半导体晶片高效平坦化加工。
  • 一种半导体晶片研磨抛光一体及其使用方法
  • [发明专利]一种圆盘刀刃口磨损的检测方法及装置-CN201710232870.5有效
  • 路家斌;欧阳兵;阎秋生 - 广东工业大学
  • 2017-04-11 - 2023-04-18 - G01B21/10
  • 本发明公开了一种圆盘刀刃口磨损的检测方法及装置。本发明提出的刃口磨损的检测装置,包括工作台,滚子轴承,底座,加紧螺母,橡胶垫片,L型气道块,气体流量计,气道块导轨。根据孔口流量特性及流量连续性方程,在压力差相同的情况下,当小空处流通截面发生变化时,气流量也随之变化。当圆盘刀的侧面和外圆柱面与L型气道块的两侧面贴合时,磨损的圆盘刀刃口与L型气道块的垂直角落处形成空隙,通过结构设置将此空隙变为气体流经管道的一部分。当圆盘刀刃口磨损更严重时,此处的空隙就会更大,管道内流量发生变化而在气体流量计上显示,记录此刻的刃口位置和气流量,旋转工作台对整个圆盘刀进行检测。
  • 一种圆盘刀刃磨损检测方法装置
  • [发明专利]一种持续监视研磨介质磨损余量的研磨装置-CN202210781752.0有效
  • 朱奕玮;付有志;梁华卓;阎秋生;路家斌 - 广东技术师范大学
  • 2022-07-04 - 2023-04-14 - B02C17/10
  • 本发明提供了一种研磨装置,包括:底架;球磨机,设置在底架上;研磨球,具有多个,所述研磨球位于所述球磨机的研磨腔体中,球磨机能够带动研磨球无规则的移动;所述球磨机包括:第一筒体和第二筒体,所述第一筒体与第二筒体相对第一对称平面对称设置,第一对称平面为竖直面,第一筒体和第二筒体相互远离的一端可旋转地设置在所述底架上,第一筒体和第二筒体的内部空间形成了研磨腔体,第一筒体和第二筒体的内壁上沿着其圆周方向分别均匀的设有多个截面呈半圆状的凸条;中间环,设置在底架上且位于第一筒体和第二筒体之间,第一筒体和第二筒体相互靠近的一端可旋转地与中间环连接。该装置能够实现对物料的研磨。
  • 一种持续监视研磨介质磨损余量装置
  • [发明专利]一种金刚石晶片抛光的材料去除率计算方法及系统-CN202110930698.7有效
  • 路家斌;王新汉;熊强;阎秋生;刘文涛;骆应荣 - 广东工业大学
  • 2021-08-13 - 2023-03-31 - B24B1/00
  • 本发明涉及金刚石抛光技术领域,公开了一种金刚石晶片抛光的材料去除率计算方法,包括:S1、在未抛光的金刚石晶片的表面加工划痕;S2、测量划痕的深度h0;S3、对金刚石晶片具有划痕的表面进行抛光,记录抛光所用的时间t;S4、测量金刚石晶片抛光后的划痕的深度h;S5、根据MRR=(h0‑h)/t计算材料去除率MRR。由于金刚石的硬度极大,抛光加工MRR极低,难于快速准确的计算,本发明采用的材料去除率计算方法中,利用表面轮廓仪测量金刚石抛光前后表面划痕深度变化。其测量直观方便,且测量结果准性高、精度高,进而使抛光加工时微小材料去除率的计算准确性高,便于金刚石晶片抛光方法优劣的评价。本发明还提供一种实现上述方法的金刚石晶片抛光的材料去除率计算系统。
  • 一种金刚石晶片抛光材料去除计算方法系统
  • [发明专利]一种抛光装置及应用其的金手指表面抛光方法-CN202111179233.9在审
  • 路家斌;胡晨;熊强;阎秋生;王新汉 - 广东工业大学
  • 2021-10-09 - 2022-01-28 - B24B29/02
  • 本发明属于印刷电路板加工技术领域,更具体地,涉及一种用于抛光装置及应用其的金手指表面抛光方法,包括机架以及均设置于机架上用于夹持工件的若干夹持组件、用于对工件进行抛光的干式抛光装置以及控制装置,干式抛光装置位于夹持组件的上方,干式抛光装置包括抛光组件以及与抛光组件连接的第一驱动组件,抛光组件底面设置有柔性抛光层,第一驱动组件与控制装置电连接,第一驱动组件带动抛光组件及柔性抛光层相对工件运动.本发明的抛光装置可避免工件与液体接触而诱发锈蚀,提高产品质量;且通过检测装置可自动检测工件的合格率,提高生产效率。
  • 一种抛光装置应用手指表面方法

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