专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种高分辨显微能谱CT成像方法及系统-CN201910121414.2有效
  • 朱溢佞;张慧滔;毛珩;翟慕岳;张朋 - 首都师范大学
  • 2019-02-19 - 2021-04-20 - G01N23/046
  • 本发明公开了一种高分辨显微能谱CT成像方法及系统,该方法包括:步骤1,开启射线源照射样品;步骤2,将穿过样品的射线中部分转换成可见光;步骤3,获得高分辨扫描数据;步骤4,获得多个不同能谱扫描数据;步骤5,配准高分辨扫描数据和多能谱扫描数据,CT重建高分辨率能谱成像的显微CT成像;所述配准包括:透视成像标准尺寸样品,提取透视成像中的标准尺寸样品;标定获得光耦合探测器的物方像素尺寸和光子计数探测器的物方像素尺寸;计算高分辨扫描数据与多能谱扫描数据的配准缩放参数和平移参数;根据缩放参数与平移参数,配准高分辨扫描数据和多能谱扫描数据。本发明能够重建出同时具备高空间分辨率与物质分辨能力的CT图像。
  • 一种分辨显微ct成像方法系统
  • [发明专利]一种超分辨率显微CT成像系统-CN201711009477.6有效
  • 朱溢佞;毛珩;翟慕岳;张慧滔;未永;傅鹏 - 首都师范大学;天津三英精密仪器股份有限公司
  • 2017-10-25 - 2020-06-09 - G02B21/36
  • 本发明公开了一种超分辨率显微CT成像系统,该系统包括X射线源、X射线转换可见光装置、显微成像装置、中继成像装置、科学级相机、多轴载物运动装置和控制装置,X射线源发射出的X射线穿透被测目标,经由X射线转换可见光装置线性转换成二维可见光光场分布,该二维可见光光场分布从X射线转换可见光装置的出射面向后传播,并作为物方投射到显微成像装置,经由显微成像装置第一次显微放大成像,然后投射到中继成像装置,经由中继成像装置第二次中继放大成像;中继成像装置包括位于中继成像装置的平行光路上的亚像素扫描件,亚像素扫描件用于控制中继成像装置的成像面上的整体二维图像在垂轴面内进行亚像素二维平移,以获得一系列像元细分的二维图像。本发明能够突破系统原有成像硬件造成的限制,实现超分辨率成像。
  • 一种分辨率显微ct成像系统
  • [发明专利]一种球面面形误差和曲率半径误差在线检测装置和方法-CN201711183639.8有效
  • 王姗姗;朱秋东;翟慕岳 - 北京理工大学
  • 2017-11-23 - 2019-06-04 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种球面面形误差和曲率半径误差在线检测装置和方法,该装置包括:样板、待测件、球面LED光源、干涉条纹采集单元、球面面形误差和曲率半径误差检测单元和控制单元;球面LED光源的正面为照射面且相对样板设置,用于提供多种波长的均匀照明光,并以其中至少两种被选定的波长的照明光源分时逐次照射样板和待测件;干涉条纹采集单元用于采集和输出等厚干涉条纹图像;球面面形误差和曲率半径误差检测单元用于获得不同波长照明下等厚干涉条纹图像上同一点的强度变化,得到该点的绝对光程差,并以此类推确定待测件的被测面的上所有点的绝对光程差,进而得到待测件的被测面的面形误差和曲率半径误差。本发明能够实现客观、自动化、高精度、低成本的球面面形误差和曲率半径误差的检测。
  • 一种球面误差曲率半径在线检测装置方法
  • [发明专利]基于样板干涉法的平面面形误差在线检测装置和方法-CN201711183671.6有效
  • 王姗姗;朱秋东;翟慕岳 - 北京理工大学
  • 2017-11-23 - 2019-06-04 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种基于样板干涉法的平面面形误差在线检测装置和方法,该装置包括:样板、待测件、平面LED光源、干涉条纹采集单元、平面面形误差检测单元和控制单元;平面LED光源的正面为照射面且相对样板设置;平面LED光源用于提供多种波长的均匀照明光,并以其中至少两种被选定的波长的照明光源分时逐次照射样板和待测件;干涉条纹采集单元用于采集和输出等厚干涉条纹图像;平面面形误差检测单元用于获得不同波长照明下等厚干涉条纹图像上同一点的强度变化,得到该点的绝对光程差,并以此类推确定被测面上所有点的绝对光程差而得到待测件的被测面的面形误差。本发明能够实现客观、自动化、高精度、低成本的平面光学元件面形误差的检测。
  • 基于样板干涉平面误差在线检测装置方法

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