专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]显微成像装置-CN202110601658.8在审
  • 曹耕玮;徐捷;闵长俊;张聿全;袁小聪 - 深圳大学
  • 2021-05-31 - 2021-08-17 - G01N21/47
  • 本申请提供了一种显微成像装置,包括:光源,用于发射初始光线;倍频晶体,设置于初始光线的传播路径上,用于形成第一初始光线和第二初始光线;第一光线组件,用于将第一初始光线转变为第一目标光线,第一目标光线为泵浦光第一目标光线用于在第一时间照射于目标结构的表面,以激发目标结构性质变化;第二光线组件,用于将第二初始光线转变为第二目标光线,第二目标光线为结构光,第二目标光线用于在第一时间后的预设时间照射于目标结构的表面,以形成背向散射光;成像组件利用该显微成像装置获取的目标结构的图像的分辨率高。
  • 显微成像装置
  • [实用新型]显微成像装置-CN202121204706.1有效
  • 曹耕玮;徐捷;闵长俊;张聿全;袁小聪 - 深圳大学
  • 2021-05-31 - 2023-03-17 - G01N21/47
  • 本申请提供了一种显微成像装置,包括:光源,用于发射初始光线;倍频晶体,设置于初始光线的传播路径上,用于形成第一初始光线和第二初始光线;第一光线组件,用于将第一初始光线转变为第一目标光线,第一目标光线为泵浦光第一目标光线用于在第一时间照射于目标结构的表面,以激发目标结构性质变化;第二光线组件,用于将第二初始光线转变为第二目标光线,第二目标光线为结构光,第二目标光线用于在第一时间后的预设时间照射于目标结构的表面,以形成背向散射光;成像组件利用该显微成像装置获取的目标结构的图像的分辨率高。
  • 显微成像装置
  • [发明专利]显微成像装置的对焦方法、显微成像装置及存储介质-CN202210796010.5在审
  • 刘伟生 - 深圳禾思众成科技有限公司
  • 2022-07-07 - 2022-11-22 - G02B21/24
  • 本申请提供一种显微成像装置的对焦方法、显微成像装置、系统及计算机可读存储介质,该方法包括:获取目标曲线函数,所述目标曲线函数用于指示显微成像装置在预设平面上的水平位移信息,和显微成像装置与目标物体的距离之间的对应关系,预设平面与所述目标物体所在平面平行;确定所述显微成像装置在所述预设平面上的目标水平位移信息;基于所述目标曲线函数,确定所述目标水平位移信息对应的所述显微成像装置与所述目标物体的目标距离;根据所述目标水平位移信息和所述目标距离确定所述显微成像装置的目标位置,获取所述显微成像装置在所述目标位置时拍摄的图像。本申请可以提高显微成像的对焦实时性和精度。
  • 显微成像装置对焦方法存储介质
  • [发明专利]一种量块尺寸非接触检测装置及方法-CN202210624539.9在审
  • 杨凡 - 南京师范大学
  • 2022-06-02 - 2022-08-16 - G01B11/00
  • 本发明属于计量技术领域,公开了一种量块尺寸非接触检测装置及方法,包括:双显微成像系统、显微镜固定滑轨、潜望装置、样品定位平台、精密平动平台;双显微成像系统中均包括显微物镜;双显微成像系统分别安装于所述显微镜固定滑轨的左侧和右侧,并沿着显微镜固定滑轨滑动;样品定位平台固定在精密平动平台上,样品定位平台用于放置待测量块;潜望装置设置于显微物镜附近,用于将待测量块边界的像折转入显微成像系统。本方案无需测量双显微成像系统之间的距离,无须双显微成像系统放大倍数完全相同,只需保证待测量块两边界分别落入对应显微成像系统视野即可实现量块尺寸测量,适用于量块加工误差的高精度检验。
  • 一种量块尺寸接触检测装置方法
  • [实用新型]一种量块长度非接触检测装置-CN202221372379.5有效
  • 杨凡 - 南京师范大学
  • 2022-06-02 - 2022-09-20 - G01B11/00
  • 本实用新型属于计量技术领域,公开了一种量块长度非接触检测装置,包括:双显微成像系统、显微镜固定滑轨、潜望装置、样品定位平台、精密平动平台;双显微成像系统中均包括显微物镜;双显微成像系统分别安装于所述显微镜固定滑轨的左侧和右侧,并沿着显微镜固定滑轨滑动;样品定位平台固定在精密平动平台上,样品定位平台用于放置待测量块;潜望装置设置于显微物镜附近,用于将待测量块边界的像折转入显微成像系统。本方案无需测量双显微成像系统之间的距离,无须双显微成像系统放大倍数完全相同,只需保证待测量块两边界分别落入对应显微成像系统视野即可实现量块尺寸测量,适用于量块加工误差的高精度检验。
  • 一种量块长度接触检测装置
  • [发明专利]一种改进的光场显微成像装置及构建方法-CN202010317725.9有效
  • 许传龙;顾梦涛;宋祥磊 - 东南大学
  • 2020-04-21 - 2022-02-01 - G01P5/26
  • 本发明公开了一种改进的光场显微成像装置及构建方法,其中光场显微成像装置包括显微镜物镜、显微镜筒镜、微透镜阵列以及相机传感器,所述相机传感器采集显微镜物镜成像显微镜筒镜上的图像;其特征在于:所述微透镜阵列位于显微镜像平面与相机传感器之间,显微镜筒镜成像显微镜像平面上,再经过微透镜阵列的作用后,再次成像于相机传感器上。本发明根据离焦距离定义求得微透镜阵列和显微镜像平面的距离;根据F数匹配原则求得相机传感器与微透镜阵列距离。本发明所提供的改进的光场显微成像装置可在物镜焦平面附近获得高重建分辨率,可作为光场显微粒子图像测速系统的成像装置
  • 一种改进显微成像装置构建方法
  • [发明专利]自动多通道类流式图像荧光分析系统-CN201510452591.0在审
  • 陈睿;颜海波;黄海清;罗浦文;夏浩涵;张莹莹 - 上海睿钰生物科技有限公司
  • 2015-07-28 - 2015-10-21 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种自动多通道类流式图像荧光分析系统,包括:集成式荧光激发光源装置、样品台装置显微成像装置、自动控制系统和分析处理系统;其中:自动控制系统分别与集成式荧光激发光源装置、样品台装置显微成像装置相连,分别对集成式荧光激发光源装置、样品台装置显微成像装置进行控制;集成式荧光激发光源装置、样品台装置显微成像装置构成显微光学系统;分析处理系统与显微成像装置相连,对显微成像装置采集的图像进行分析处理。本发明能够以显微成像技术为基础、快速采集和分析大量样品的成像信息,并采用密度函数的算法进行分析,以同时获得每个细胞的形态影像学分析结果和基于大样本量的密度函数的类流式数据分析结果。
  • 自动通道类流式图像荧光分析系统

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