专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种载流子迁移率高的二维光电半导体材料及其应用-CN202211481651.8在审
  • 王晓;杨晓新;李江宇 - 深圳先进技术研究院
  • 2022-11-24 - 2023-09-22 - C01B35/00
  • 本发明涉及半导体材料技术领域,特别涉及一种载流子迁移率高的二维光电半导体材料及其应用。该半导体材料的化学式为Be3B2C3,所述Be3B2C3的单层晶胞由三个铍原子、两个硼原子和三个碳原子组成,每个所述碳原子以平面方式与三个铍原子和两个硼原子结合;其中,所述Be3B2C3的晶格常数为#imgabs0#该载流子迁移率高的二维光电半导体材料是一种新的二维半导体材料Be3B2C3,具有高鲁棒性、合适的带隙以及极高的载流子迁移率。通过杂化泛函计算,其本征直接带隙为1.97eV,对可见光具有响应。光吸收系数可达105cm‑1数量级,优于常见的硅、MAPbI3等光伏材料。此外,它在室温下的载流子迁移率达到了破纪录的8×105cm2V‑1s‑1
  • 一种载流子迁移率二维光电半导体材料及其应用
  • [发明专利]力栅晶体管及其制备方法、电子器件-CN202310925395.5在审
  • 黄博远;李江宇 - 南方科技大学
  • 2023-07-26 - 2023-08-25 - H01L29/78
  • 本申请提供一种力栅晶体管及其制备方法、电子器件。该晶体管包括具有凹部的衬底、半导体薄膜层、第一电极以及第二电极。其中,半导体薄膜层覆盖在凹部处,并且半导体薄膜层的第一端部和第二端部均覆盖在凹部之外的衬底上;第一电极和第二电极设置在上述凹部的两侧;半导体薄膜层被配置为在外力的作用下通过挠曲电极化的方式调控第一电极与第二电极之间的半导体薄膜层的电导率。本申请实施例的技术方案能够实现通过力控的方式调控晶体管的导通特性,无需额外设置电栅极,而且能够简化晶体管的结构。
  • 晶体管及其制备方法电子器件
  • [发明专利]利用CoFe2-CN202110778227.9有效
  • 钟高阔;李江宇;陈骞鑫;程明强 - 中国科学院深圳先进技术研究院
  • 2021-07-09 - 2023-08-22 - H10N30/85
  • 本申请公开了一种利用CoFe2O4定向调控PMN‑PT薄膜生长取向的压电材料。PMN‑PT薄膜材料包括具有特定晶面取向的衬底、形成于衬底上的底电极层、形成于底电极层上的调控层、以及形成于调控层上的外延层,调控层为基于底电极层生长的CFO层,外延层为基于调控层生长的PMN‑PT层,PMN‑PT层的外延取向为[111];其制备方法为:选取晶面取向为[100]或[110]或[111]的STO基片作为衬底,在STO基片上生成SRO层,在SRO底电极层上生成CFO层,在CFO调控层上生成PMN‑PT层。本申请能够在不同衬底或不同取向的衬底上制备得到特定取向的PMN‑PT外延薄膜材料。
  • 利用cofebasesub
  • [实用新型]原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置及制样系统-CN202223320475.8有效
  • 张凤元;刘凯鑫;黄博远;李江宇 - 南方科技大学
  • 2022-12-09 - 2023-08-01 - G01Q30/20
  • 本实用新型公开了一种原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置及制样系统,制样装置包括:绝缘树脂体,第一电极,第二电极,第一导线以及第二导线。第一电极和第二电极夹持薄膜;第一宽端、第二宽端以及薄膜靠近第一宽端的一侧,均平齐于绝缘树脂体的表面;在垂直于薄膜的方向上,第一宽端和第二宽端对应设置,且第一窄端和第二窄端错开设置。当第一电极和第二电极分别连接在薄膜两侧时,第一宽端和第二宽端相对应设置,第一窄端和第二窄端是相互错开的,从而确保引出电极时不会相互干扰。通过薄膜与本申请的制样装置形成薄膜样品,以供原子力显微镜进行测试,确保了获取更多薄膜样品微观结构信息。
  • 原子显微镜原位测试薄膜样品装置系统
  • [发明专利]一种用于检测材料极性的高通量系统及检测方法-CN202211598815.5在审
  • 张园;李江宇;黄博远;黎长建 - 南方科技大学
  • 2022-12-14 - 2023-06-23 - G01N21/84
  • 本发明公开了一种用于检测材料极性的高通量系统及检测方法,其中,所述用于检测材料极性的高通量系统包括激光发射装置、激光透射装置以及显微成像装置,所述激光透射装置位于所述激光发射装置的一侧,用于接收所述激光发射装置发射的激光束;所述显微成像装置位于所述激光透射装置的一侧,用于接收所述激光透射装置传递的激光束并聚焦于极性高通量样品上,以激发极性高通量样品产生光学二次谐波信号,所述显微成像装置接收光学二次谐波信号。本发明通过显微成像装置将激光束聚焦于极性高通量样品上,以激发极性高通量样品产生光学二次谐波信号,并获取作用于极性高通量样品的光学二次谐波信号。
  • 一种用于检测材料极性通量系统方法
  • [发明专利]原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置、系统、方法-CN202211580757.3在审
  • 黄博远;刘凯鑫;张凤元;李江宇 - 南方科技大学
  • 2022-12-09 - 2023-06-09 - G01Q30/20
  • 本发明公开了一种原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置、系统、方法,制样装置包括:绝缘树脂体,第一电极,第二电极,第一导线以及第二导线。第一电极和第二电极夹持薄膜;第一宽端、第二宽端以及薄膜靠近第一宽端的一侧,均平齐于绝缘树脂体的表面;在垂直于薄膜的方向上,第一宽端和第二宽端对应设置,且第一窄端和第二窄端错开设置。当第一电极和第二电极分别连接在薄膜两侧时,第一宽端和第二宽端相对应设置,第一窄端和第二窄端是相互错开的,从而确保引出电极时不会相互干扰。通过薄膜与本申请的制样装置形成薄膜样品,以供原子力显微镜进行测试,确保了获取更多薄膜样品微观结构信息。
  • 原子显微镜原位测试薄膜样品装置系统方法
  • [发明专利]一种解析静电与力电耦合响应的原子力显微方法及系统-CN202110384915.7有效
  • 黄博远;李江宇 - 南方科技大学
  • 2021-04-09 - 2022-12-02 - G01Q60/24
  • 本发明实施例公开了一种解析静电与力电耦合响应的原子力显微方法及系统。一种解析静电与力电耦合响应的原子力显微方法,包括:将两个频段内具有不同特性参数的子波形按预设拼接顺序合成激励信号;将所述激励信号施加至待测目标,获取待测目标不同特性参数对应的振幅图像;根据目标解耦模型和所述待测目标的双模态振幅图像进行解耦与重构,生成所述待测目标的应变图像和静电图像。解决力电耦合应变测量易受静电影响、结果不准确的问题,实现由目标解耦模型定量解析双模态数据准确获得待测目标的力电耦合应变图像和静电响应图像的效果。
  • 一种解析静电耦合响应原子显微方法系统

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