专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]灭弧室及包括其的负载开闭器-CN202280015495.8在审
  • 李东植 - LS电气株式会社
  • 2022-01-13 - 2023-10-20 - H01H33/12
  • 本发明公开了一种能够紧贴设置于曲线形框架部的灭弧室及包括其的负载开闭器,所述灭弧室包括:两个盖部,与框架部的外周相邻配置,彼此隔开,在所述框架部的轴向上重叠;以及电弧格栅,配置在面向的两个所述盖部之间,分别与两个所述盖部结合;所述盖部的与所述框架部的外周接触的一侧形成为与所述框架部的外周对应的形状。
  • 灭弧室包括负载开闭
  • [发明专利]三维半导体存储器件及其制造方法-CN201810762087.4有效
  • 黄盛珉;李东植;任峻成 - 三星电子株式会社
  • 2018-07-11 - 2023-09-12 - H10B41/41
  • 一种三维半导体存储器件包括:衬底,包括外围电路区域和单元阵列区域;多个外围栅极叠层,设置在所述外围电路区域中;以及电极结构,设置在所述单元阵列区域中。电极结构包括下电极、设置在所述下电极上的下绝缘层、以及交替堆叠在所述下绝缘层上的上电极和上绝缘层。所述下绝缘层从所述单元阵列区域延伸到所述外围电路区域中并覆盖所述外围栅极叠层。所述下绝缘层包括顺序堆叠在彼此上的第一下绝缘层和第二下绝缘层。所述第一下绝缘层包括第一绝缘材料,并且所述第二下绝缘层包括与所述第一绝缘材料不同的第二绝缘材料。
  • 三维半导体存储器件及其制造方法
  • [发明专利]三维半导体存储器装置-CN201910454994.7有效
  • 崔康润;李吉成;李东植;任庸植;赵恩锡 - 三星电子株式会社
  • 2019-05-29 - 2023-09-12 - H10B41/41
  • 提供了一种三维半导体存储器装置,该三维半导体存储器装置包括:基底;第一堆叠结构和第二堆叠结构,在基底上彼此相邻;第一共源极塞,位于第一堆叠结构与第二堆叠结构之间;第二共源极塞,位于第一堆叠结构与第二堆叠结构之间;以及竖直介电结构,位于第一共源极塞与第二共源极塞之间。第一堆叠结构和第二堆叠结构中的每个可以包括交替地堆叠在基底上的多个绝缘层和多个电极。第一共源极塞可以连接到基底。第二共源极塞可以与基底分隔开。
  • 三维半导体存储器装置
  • [发明专利]三维(3D)半导体存储器装置和包括其的电子系统-CN202210347357.1在审
  • 黃盛珉;沈载株;李东植;朴凤泰 - 三星电子株式会社
  • 2022-04-01 - 2023-01-10 - H10B41/35
  • 提供了三维(3D)半导体存储器装置和包括其的电子系统。所述3D半导体存储器装置包括:基底;堆叠结构,包括交替地且重复地堆叠在基底上的层间介电层和栅电极;垂直沟道结构,穿透堆叠结构;分隔结构,与垂直沟道结构间隔开并且填充与堆叠结构交叉的沟槽,分隔结构包括间隔件和第一导电接触件,间隔件覆盖沟槽的内侧壁,第一导电接触件填充沟槽的被间隔件围绕的内空间;绝缘层,覆盖基底和堆叠结构;接触插塞,穿透绝缘层以连接到堆叠结构的栅电极;以及第二导电接触件,与堆叠结构间隔开并且穿透绝缘层以连接到外围电路晶体管。第一导电接触件的底表面位于比间隔件的底表面低的水平处。
  • 三维半导体存储器装置包括电子系统
  • [发明专利]半导体装置-CN201610883987.5有效
  • 李雄燮;崔钟允;辛镇铉;李东植 - 三星电子株式会社
  • 2016-10-10 - 2022-01-25 - H01L27/11551
  • 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:堆叠件,包括交替且重复地堆叠在基底上的绝缘层和栅电极;下半导体图案,从基底沿竖直方向突出到堆叠件中;下半导体图案的上部,具有在远离基底的方向上逐渐减小的宽度;沟道结构,竖直地贯穿堆叠件并连接到下半导体图案;以及绝缘填隙图案,在沟道结构内部,其中,绝缘填隙图案的底表面低于下半导体图案的上部的底。
  • 半导体装置
  • [发明专利]三维半导体存储器装置-CN202110054620.3在审
  • 梁宇成;李炳镇;康范圭;李东植 - 三星电子株式会社
  • 2021-01-15 - 2021-07-16 - H01L27/11563
  • 一种三维半导体存储器装置包括:第一外围电路,其包括不同的解码器电路;第一外围电路上的第一存储器;以及第一存储器上的第二存储器,第一存储器包括:第一堆叠结构,其具有堆叠在彼此上的第一电极层和它们之间的第一电极间介电层;第一平面化介电层,其覆盖第一堆叠结构的端部;以及穿通件,其穿透第一堆叠结构的端部,穿通件电连接至所述解码器电路中的一个,第二存储器包括:第二堆叠结构,其具有堆叠在彼此上的第二电极层以及它们之间的第二电极间介电层;第二平面化介电层,其覆盖第二堆叠结构的端部;以及单元接触插塞,其将第二电极层中的一个电连接至穿通件。
  • 三维半导体存储器装置
  • [发明专利]三维半导体存储器件-CN202010206330.1在审
  • 李炳镇;李东植;任峻成 - 三星电子株式会社
  • 2020-03-23 - 2020-11-24 - H01L27/11519
  • 提供一种半导体器件。该半导体器件包括:堆叠结构,该堆叠结构包括在衬底上彼此间隔开的多个电介质层、插设在所述多个电介质层之间的多个电极、和插设在所述多个电介质层之间的多个停止层;以及穿透堆叠结构的垂直沟道结构。所述多个电极和所述多个停止层中的每个分别设置在所述多个电介质层中的相邻电介质层之间,所述多个停止层包括第一停止层和插设在第一停止层与衬底之间的第二停止层,以及所述多个电极中的至少一个插设在第一停止层和第二停止层之间。
  • 三维半导体存储器件
  • [发明专利]半导体器件-CN202010029757.9在审
  • 黄盛珉;任峻成;梁宇成;李东植 - 三星电子株式会社
  • 2020-01-10 - 2020-07-21 - H01L27/11521
  • 公开了一种半导体器件包括:栅电极,在与衬底上表面垂直的第一方向上彼此间隔开,并且在与第一方向垂直的第二方向上延伸不同的长度。该器件还包括:第一沟道和第二沟道,穿透栅电极并在第一方向上延伸;水平部分,设置在栅电极的下部中,并且将第一沟道和第二沟道的下部彼此连接;以及源极线,设置在第二沟道的上部中并连接到第二沟道。栅电极包括存储器单元中包括的存储器单元电极、设置在存储器单元电极的下部中的第一接地选择电极、设置在存储器单元电极的上部中的第二接地选择电极、以及设置在存储器单元电极的上部中的串选择电极。
  • 半导体器件
  • [发明专利]三维半导体存储器件-CN201910954716.8在审
  • 崔康润;李东植;金钟源;李吉成;赵恩锡;崔炳镕;黄盛珉 - 三星电子株式会社
  • 2019-10-09 - 2020-07-03 - H01L27/11529
  • 一种三维半导体存储器件包括:衬底,所述衬底包括单元阵列区域和连接区域,所述衬底包括形成在所述连接区域上的虚设沟槽;电极结构,所述电极结构位于所述衬底上并且包括在所述连接区域上具有阶梯结构竖直堆叠的电极;虚设绝缘结构,所述虚设绝缘结构设置在所述虚设沟槽中,所述虚设绝缘结构包括与所述衬底和所述电极结构间隔开的蚀刻停止图案;单元沟道结构,所述单元沟道结构设置在所述单元阵列区域上,并且穿过所述电极结构且与所述衬底接触;以及虚设沟道结构,所述虚设沟道结构设置在所述连接区域上,并且穿过所述电极结构和所述虚设绝缘结构的一部分且与所述蚀刻停止图案接触。
  • 三维半导体存储器件

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