专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]图像处理器、图像处理方法和摄像设备-CN202210966357.X在审
  • 古闲史彦;山口哲司 - 索尼半导体解决方案公司
  • 2019-01-29 - 2022-12-09 - H04N9/04
  • 本发明涉及图像处理器、图像处理方法和摄像设备。其中,图像处理器包括:图像分割处理部,其被构造成基于包括多个像素值的第一图像图谱数据产生多个第一图谱数据,所述多个第一图谱数据具有彼此不同的像素值排列图案,并包括位于彼此不同的位置处的像素值;插值处理部,其被构造成通过以下方式产生与所述多个第一图谱数据相对应的多个第二图谱数据:利用插值处理确定所述多个第一图谱数据的每者中不存在像素值的位置处的像素值;以及合成处理部,其被构造成通过以下方式产生第三图谱数据:基于所述多个第二图谱数据中彼此相对应的位置处的像素值产生与所述彼此相对应的位置相对应的位置处的像素值。
  • 图像处理器处理方法摄像设备
  • [发明专利]图像处理器、图像处理方法和摄像设备-CN202210968148.9在审
  • 古闲史彦;山口哲司 - 索尼半导体解决方案公司
  • 2019-01-29 - 2022-12-09 - H04N9/04
  • 本发明涉及图像处理器、图像处理方法和摄像设备。其中,图像处理器可包括:图像分割处理部,其基于包括多个像素值的第一图像图谱数据产生多个第一图谱数据;插值处理部,其利用插值处理产生与多个第一图谱数据相对应的多个第二图谱数据;合成处理部,其通过以下方式产生第三图谱数据:基于多个第二图谱数据中彼此相对应的位置处的像素值,产生与彼此相对应的位置相对应的位置处的像素值;以及插值控制器,插值控制器被构造成基于第一图像图谱数据确定插值处理中的处理方法,其中,插值控制器被构造成基于第一图像图谱数据、第二图像图谱数据和第三图像图谱数据产生合成的图谱数据,并基于合成的图谱数据确定插值处理中的处理方法。
  • 图像处理器处理方法摄像设备
  • [发明专利]图像处理器、图像处理方法和摄像设备-CN202210968588.4在审
  • 古闲史彦;山口哲司 - 索尼半导体解决方案公司
  • 2019-01-29 - 2022-12-09 - H04N9/07
  • 本发明涉及图像处理器、图像处理方法和摄像设备。其中,图像处理器可包括:图像分割处理部,其基于包括多个像素值的第一图像图谱数据产生多个第一图谱数据;插值处理部;以及合成处理部,其中,所述图像分割处理部还基于包括多个像素值的第二图像图谱数据产生多个第四图谱数据,具有彼此不同的像素值排列图案,包括位于彼此不同的位置处的像素值,插值处理部通过插值处理方式产生与多个第四图谱数据相对应的多个第五图谱数据,所述多个第一图谱数据中的所述像素值排列图案包括第一排列图案和第二排列图案,并且所述多个第四图谱数据中的所述像素值排列图案包括所述第一排列图案和所述第二排列图案。
  • 图像处理器处理方法摄像设备
  • [发明专利]成像设备和电子装置-CN201810744343.7有效
  • 山口哲司 - 索尼公司
  • 2012-09-28 - 2022-11-18 - H01L27/146
  • 本发明涉及成像设备和电子装置。其中,成像设备包括:半导体衬底,具有对应于光入射侧的第一表面和与所述第一表面相对的第二表面;第一光电转换单元,布置在所述半导体衬底中;纵向晶体管,具有栅极电极,所述栅极电极的至少一部分从所述第二表面被嵌入到所述半导体衬底中并且被布置在所述第一光电转换单元下方;和有机光电转换单元,布置在所述第一表面上方,其中,金属层布置在所述有机光电转换单元和所述第一表面之间。
  • 成像设备电子装置
  • [发明专利]图像处理器、图像处理方法和摄像设备-CN201980007286.7有效
  • 古闲史彦;山口哲司 - 索尼半导体解决方案公司
  • 2019-01-29 - 2022-09-16 - H04N9/07
  • 根据本公开的图像处理器包括:图像分割处理部,其被构造成基于包括多个像素值的第一图像图谱数据产生多个第一图谱数据,所述多个第一图谱数据具有彼此不同的像素值排列图案,并包括位于彼此不同的位置处的像素值;插值处理部,其被构造成通过以下方式产生与所述多个第一图谱数据相对应的多个第二图谱数据:利用插值处理确定所述多个第一图谱数据的每者中不存在像素值的位置处的像素值;以及合成处理部,其被构造成通过以下方式产生第三图谱数据:基于所述多个第二图谱数据中彼此相对应的位置处的像素值产生与所述彼此相对应的位置相对应的位置处的像素值。
  • 图像处理器处理方法摄像设备
  • [发明专利]粒径分布测量装置及粒径分布测量方法-CN202080080007.2在审
  • 山口哲司;森哲也;名仓诚 - 株式会社堀场制作所
  • 2020-11-09 - 2022-07-08 - G01N15/02
  • 本发明提供一种粒径分布测量装置,能边使试样的状态变化边测量粒径分布,所述粒径分布测量装置(100)具备:光源(LS),对收容在具备彼此分开规定距离的一对的透光板(C1)的池(C)内的试样射出测量光;一个或多个检测器(D1、D2),检测在试样中被散射的测量光;粒径分布计算器(P2),根据所述检测器(D1、D2)的输出信号,计算所述试样(S)中包含的粒子群的粒径分布,还具备通过使一对的所述透光板的至少一方移动来对所述池内的试样施加压力或剪切力的力施加机构(1),所述粒径分布计算器(P2)构成为计算对试样(S)施加的压力或剪切力从第一状态变化为第二状态的时点的粒径分布。
  • 粒径分布测量装置测量方法

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