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[发明专利]基于离焦衍射场的大口径光学元件缺陷定位装置及方法-CN202310818993.2在审
发明人：焦兆阳;王宏昌;华翔;刘雨欣;彭馨慧;孙明营;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于离焦衍射场的大口径光学元件缺陷定位的装置及方法，使用一块大口径透镜，在透镜焦点附近的离焦位置采集离焦衍射场，通过该离焦衍射场实现了对大口径光学元件缺陷的定位。相比于传统的借助线扫描或面扫描的缺陷定位方式，我们的方法通过单幅衍射图样就可以完成定位，光路简单，数据量小。并且，由于我们的方法是借助于衍射环来实现缺陷的定位，因此本发明有着较高的分辨率。因此本发明的优势在于，使用简单的光路，不依赖于大靶面的相机，就可以通过单幅图像对大口径元件实现高精度的缺陷定位。
基于衍射口径光学元件缺陷定位装置方法

[发明专利]基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法-CN202310438504.0在审
发明人：范薇;张天宇;徐英明;汪小超;刘诚;孙明营;朱健强;张生佳 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2023-04-23 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：一种基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法。多束待同步的高功率密度超短脉冲经过光克尔介质后会发生感应双折射效应，该效应会瞬时改变参考光束的偏振特性，通过参考信号脉冲的振幅或者相位变化来测量多束超短脉冲之间的同步。该方法可以实现大角度的超短脉冲在靶点处的同步测量，具有测量精度高，可重复性好，稳定度高等优点。
基于克尔效应超短脉冲同步测试装置方法

[发明专利]基于非线性热像反演的相位缺陷检测装置和方法-CN202010156270.7有效
发明人：焦兆阳;王宏昌;孙明营;张军勇;刘诚;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-03-09 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：一种基于非线性热像反演的相位缺陷检测装置和方法，特点在于通过测量热像面的强度信息，使用基于非线性反演的重构算法，重构出待测样品的振幅和相位信息。相对于传统的基于线性传输的检测方法，由于非线性光克尔效应可以将样品缺陷的弱相位信息转化成热像面处的强振幅信息，同时非线性光克尔效应对中高频信息响应更加良好，因此本发明的优势在于有更高的信号对比度，更高的分辨率以及更高的精度。
基于非线性反演相位缺陷检测装置方法

[发明专利]大口径光学元件损伤密度测试装置和方法-CN202010353966.9有效
发明人：郭亚晶;孙明营;唐顺兴;姜秀青;朱宝强;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-04-29 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：一种用于大口径光学元件损伤密度测试的装置及方法，包括：激光光源、能量调节波片、能量调节棱镜、柱面透镜、第一取样镜、吸收体、光束质量分析仪、第二取样镜、能量计、光电探头、示波器、长焦显微镜、白光照明光源、旋转电机控制器、数据采集卡、供待测大口径光学元件样品放置的三维样品运动电机控制器、显微镜运动电机控制器和计算机。本发明采用了柱面透镜对光束进行聚焦，可以实现较大面积光斑对待测元件的扫描测试，能够提高测试效率和测试准确性。适用于熔石英元件表面损伤密度、晶体体损伤密度、光栅表面损伤密度，或者光学元件膜层表面损伤密度测试中。
口径光学元件损伤密度测试装置方法

[发明专利]基于光学频率重组上转换产生深紫外激光的装置-CN202110431645.0有效
发明人：崔子健;孙明营;孙子茗;刘德安;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： H01S3/109 文献下载
摘要：本发明属于激光技术领域，公开了一种基于光学频率重组上转换产生深紫外激光的装置。本发明包含二倍频晶体、合束镜、光参量放大晶体、四倍频晶体以及和频晶体。首先利用二倍频晶体将基频光进行倍频产生二次谐波，然后利用一部分二次谐波在光参量放大晶体中对信号光进行放大，同时产生闲置光。随后剩余部分二次谐波经四倍频晶体产生四次谐波，然后在和频晶体中将四次谐波与产生的闲置光进行和频，最终获得非整数次谐波的高能深紫外激光。本发明结合了光学谐波转换与光参量放大，通过光参量放大产生不同于基频光波长的激光，并将其与基频光的整数次谐波进行和频，从而获得非整数次谐波的激光，这为在诸多晶体中产生深紫外波段激光提供了新的途径。
基于光学频率重组转换产生深紫激光装置

[发明专利]一种基于双非线性光学过程的宽带光参量放大装置-CN202110431643.1有效
发明人：崔子健;孙子茗;孙明营;刘德安;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G02F1/39 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于双非线性光学过程的宽带光参量放大装置，主要包括基频光、信号光、分束镜、合束镜、倍频晶体和光参量放大晶体等器件。基频光通过倍频晶体产生泵浦光，然后在光参量放大晶体中利用泵浦光对信号光进行参量放大，同时再入射一束基频光，使基频光与参量放大过程中产生的闲置光进行和频，消耗闲置光，从而抑制光参量放大的逆转换过程，实现更高效率、更大带宽的光参量放大。由于光参量放大、和频这两个非线性光学过程均属于参量过程，热积累效应极低，并且可以在诸多晶体材料中、很宽的波长范围内可以同时实现，因此本发明不仅能够适用于高峰值功率、高平均功率等情况，还可以应用于不同晶体、不同波段的光参量放大。
一种基于非线性光学过程宽带参量放大装置

[发明专利]基于非线性全息热像的玻璃气泡检测装置和方法-CN202210059790.5在审
发明人：焦兆阳;王宏昌;华翔;刘文凤;孙明营;刘诚;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：一种基于非线性全息热像的光学玻璃气泡检测装置和方法，包括激光器，沿该激光器输出的激光方向依次是空间滤波器、准直透镜、非线性介质、光电探测器，所述的光电探测器的输出端与所述的计算机的输入端相连。本发明能对光学玻璃的气泡进行实时、高效、精密的检测。
基于非线性全息玻璃气泡检测装置方法

[发明专利]一种光学件表面污染物的测量装置及方法-CN202111283438.1在审
发明人：庞向阳;梁成杰;孙明营;刘文凤;刘志刚;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：一种光学件表面污染物的测量装置及方法，属于光学精密工程领域。该装置包括精密电子天平、真空腔体、分子泵/机械泵、蒸发室、温控组件、石英微晶天平、四极杆质谱仪、紫外分光光度仪和化学膜镜片及夹具组成。该装置功能强大，能精密控制有机污染物微量挥发，精密测量真空环境气氛中有机污染物挥发浓度分压值和精密测量光学件表面污染沉积质量。该装置及测量方法将有机物挥发扩散沉积量与化学膜透过率变化相关联，建立光学系统中有机物污染与光学元件性能参数变化的规律研究，为激光装置洁净污染损伤控制提供技术参考。
一种光学表面污染物测量装置方法

[发明专利]基于脉冲序列的元件损伤特性调控方法及损伤测试系统-CN202111181924.2在审
发明人：刘文凤;孙明营;郭亚晶;崔子健;焦兆阳;石逸群;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于脉冲序列的元件损伤特性调控方法及损伤测试系统。通过对脉冲序列进行时域整形，改变脉冲序列时域包络形状，可以实现对光学元件损伤特性的调控。基于脉冲序列的元件损伤测试系统可以输出子脉冲能量比、间隔、数目、偏振均可独立调节的脉冲序列，可以满足不同种类脉冲序列的激光损伤特性调控及损伤测试条件，为探究元件损伤机理和提高元件损伤性能提供实验平台。
基于脉冲序列元件损伤特性调控方法测试系统

[实用新型]大口径高功率反射器件-CN202022566175.2有效
发明人：戈亚萍;汤更秀;郭亚晶;任志远;孙明营;沈卫星;张臻;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-11-09 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G02B5/08 文献下载
摘要：一种大口径高功率反射器件，是在高硼硅基底上镀高反射膜构成，本实用新型可改善K9材料的高热膨胀系数产生的温度梯度应力造成的影响，具有更强的抗断裂能力；同时可降低成本，达到石英材料接近的光学性能、机械性能、热学性能。
口径功率反射器件

[发明专利]大口径高功率反射器件-CN202011238624.9在审
发明人：戈亚萍;汤更秀;郭亚晶;任志远;孙明营;沈卫星;张臻;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-11-09 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G02B5/08 文献下载
摘要：一种大口径高功率反射器件，是在高硼硅基底上镀高反射膜构成，本发明可改善K9材料的高热膨胀系数产生的温度梯度应力造成的影响，具有更强的抗断裂能力；同时可降低成本，达到石英材料接近的光学性能、机械性能、热学性能。
口径功率反射器件

[发明专利]光学元件多波长激光损伤测试与分析系统-CN201810226781.4有效
发明人：郝艳飞;孙明营;郭亚晶 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2018-03-19 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种光学元件多波长激光损伤测试与分析系统，该测试系统中能量采集、电机驱动、光束质量监测、损伤图像监测均由主控计算机自动化完成。本发明不仅包含了以往多种单光束损伤探测系统对各类光学元件激光损伤探测与分析的功能，并且能实时观测光学元件损伤的横向与纵向发展过程，测试系统具有从飞秒到纳秒不同激光脉宽的脉冲激光器，是一种自动化的支持多波长的适用于不同激光脉宽的光学元件激光损伤测试系统，为研究多波长激光与材料耦合相互作用提供实验平台。
光学元件多波长激光测试系统分析系统激光脉宽激光损伤损伤测试自动化光学元件损伤脉冲激光器主控计算机电机驱动能量采集实时观测实验平台损伤探测图像监测质量监测纵向发展耦合单光束多波长损伤探测分析研究

[发明专利]高功率激光传输通道防杂散光的结构-CN201810226782.9在审
发明人：郝艳飞;孙明营;郭亚晶 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2018-03-19 - 公布日： 2018-10-19 - 主分类号： G02B5/00 文献下载
摘要：一种高功率激光传输通道防杂散光的结构，其特征是在高功率激光传输通道的内壁粘贴有吸收玻璃层和白宝石漫反射层。本发明能够防止杂散光对金属光传输通道的直接辐照，进而有效降低光传输通道内部污染物含量，保护内部光学元件，提高整个激光系统运行通量和使用寿命。
高功率激光传输光传输通道防杂散光内部光学元件内部污染物辐照激光系统漫反射层使用寿命白宝石玻璃层杂散光内壁通量粘贴金属吸收

[实用新型]一种多光程薄片式激光放大器-CN201020607358.8无效
发明人：王宪涛;王勇;王斌;孙明营;王裕民;朱健强 -专利权人：苏州大恒光学精密机械有限公司
申请日： 2010-11-16 - 公布日： 2011-10-05 - 主分类号： H01S3/0941 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多光程薄片式激光放大器，包括一个泵浦光路系统和一个激光光路系统，其信号走向为：从泵浦光源射出泵浦光束，穿透过光学耦合系统和双色分束镜，与直接经输入镜反射的激光光束在双色分束镜的表面交汇，形成泵浦光和激光的重合光束后，入射到抛物面反射镜上，所述泵浦和激光的重合光束经过在抛物面反射镜、激光增益介质薄片和双直角反射棱镜组之间的折射和反射作用，最后以平行于入射光方向的输出光束，射到输出镜上，反射后输出。本实用新型的多光程激光放大器结构将泵浦光路与激光光路合二为一，实现多光程放大，提高了泵浦光的利用效率，增大了放大过程中的有效增益，适合应用于科研和工业加工的激光器中。
一种光程薄片激光放大器

[实用新型]一种多光程薄片式激光振荡器-CN201020607346.5无效
发明人：王宪涛;王勇;王斌;孙明营;王裕民;朱健强 -专利权人：苏州大恒光学精密机械有限公司
申请日： 2010-11-16 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： H01S3/0941 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多光程薄片式激光振荡器，包括在一光路上依次安置的泵浦光源、光学耦合系统、双色分束镜、抛物面反射镜、激光增益介质薄片、其中，所述光路上，在激光增益介质薄片之后还依次安置有双直角反射棱镜组和耦合输出腔镜，所述双直角反射棱镜组由第一直角反射棱镜和第二个直角反射棱镜构成。本实用新型的多光程激光振荡器结构将泵浦腔与激光谐振腔合二为一，即泵浦光路和激光振荡光路合二为一，使泵浦光多次通过增益介质，提高了泵浦效率；又由于振荡激光多次通过增益介质薄片，使谐振腔中光束一次往返过程中的增益提高数倍甚至数十倍，从而提高了激光器输出功率。适合应用于科研和工业加工的激光器中。
一种光程薄片激光振荡器

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