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[发明专利]基于离焦衍射场的大口径光学元件缺陷定位装置及方法-CN202310818993.2在审
发明人： 焦兆阳;王宏昌;华翔;刘雨欣;彭馨慧;孙明营;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于离焦衍射场的大口径光学元件缺陷定位的装置及方法，使用一块大口径透镜，在透镜焦点附近的离焦位置采集离焦衍射场，通过该离焦衍射场实现了对大口径光学元件缺陷的定位。相比于传统的借助线扫描或面扫描的缺陷定位方式，我们的方法通过单幅衍射图样就可以完成定位，光路简单，数据量小。并且，由于我们的方法是借助于衍射环来实现缺陷的定位，因此本发明有着较高的分辨率。因此本发明的优势在于，使用简单的光路，不依赖于大靶面的相机，就可以通过单幅图像对大口径元件实现高精度的缺陷定位。
基于衍射口径光学元件缺陷定位装置方法

[发明专利]基于数字光阑调制的刀口法环带误差定量检测方法-CN202310705053.2在审
发明人：华翔;朱健强;焦兆阳 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： B23Q17/24 文献下载
摘要：一种基于数字光阑调制的刀口法环带误差定量检测方法，首先将刀口仪沿待测光学元件主光轴方向移动，同时采集刀口阴影检测图。然后对待测镜面产生的轴向多幅刀口阴影检测图进行子环带分割，通过每个环带对应图像灰度沿轴向的演变特性来确定该环带对应的轴向焦点位置，从而实现整个面形的定量化求解。该数字化数字光阑加设方法优化了传统实体光阑受限于只有在固定位置开缝进而不能灵活使用且增加系统复杂度的问题，为光学车间检测提供了一种定量化检测的新思路，优化了光学加工与检测的效率。
基于数字光阑调制刀口环带误差定量检测方法

[发明专利]基于非线性热像反演的相位缺陷检测装置和方法-CN202010156270.7有效
发明人： 焦兆阳;王宏昌;孙明营;张军勇;刘诚;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-03-09 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：一种基于非线性热像反演的相位缺陷检测装置和方法，特点在于通过测量热像面的强度信息，使用基于非线性反演的重构算法，重构出待测样品的振幅和相位信息。相对于传统的基于线性传输的检测方法，由于非线性光克尔效应可以将样品缺陷的弱相位信息转化成热像面处的强振幅信息，同时非线性光克尔效应对中高频信息响应更加良好，因此本发明的优势在于有更高的信号对比度，更高的分辨率以及更高的精度。
基于非线性反演相位缺陷检测装置方法

[发明专利]基于非线性全息热像的玻璃气泡检测装置和方法-CN202210059790.5在审
发明人： 焦兆阳;王宏昌;华翔;刘文凤;孙明营;刘诚;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：一种基于非线性全息热像的光学玻璃气泡检测装置和方法，包括激光器，沿该激光器输出的激光方向依次是空间滤波器、准直透镜、非线性介质、光电探测器，所述的光电探测器的输出端与所述的计算机的输入端相连。本发明能对光学玻璃的气泡进行实时、高效、精密的检测。
基于非线性全息玻璃气泡检测装置方法

[发明专利]用于刀口仪检测光学元件的光轴自动对准方法-CN202111183214.3在审
发明人：华翔;朱健强;焦兆阳;王宏昌 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：一种刀口法检测光学元件表面波前加工误差的自动对准光轴装置及方法，该装置由常规刀口仪，成像镜头，CCD相机，五维电动调节机构和计算机组成。刀口仪的使用首先要解决刀口仪和待测元件的光轴自动对准问题，本发明利用刀口仪的点光源作为准直光源，刀口仪的后方放置成像系统，成像系统和刀口仪相对固定，作为一个整体进行后续的五维调整，由CCD相机检测点光源通过光学元件之后的成像光斑，根据光斑特点解决刀口仪光源主光轴和待测光学元件光轴耦合问题。首先针对偏摆误差，使用CCD在成像面前后采集多幅图像，根据成像光斑的像散程度求解偏摆误差并进行补偿；其次，针对位移误差，使用CCD在像面采集光斑图像，根据光斑的椭圆程度调整刀口仪的位移。最终完成刀口仪光轴和待测镜面光轴的对准。本发明通过光斑图像采集和分析，实现了偏摆误差和位移误差的解耦和自动化校正，可以显著提高刀口仪的调试和检测效率，且易于实施，有效地解决了刀口仪和待测元件的光轴自动对准问题。
用于刀口检测光学元件光轴自动对准方法

[发明专利]基于脉冲序列的元件损伤特性调控方法及损伤测试系统-CN202111181924.2在审
发明人：刘文凤;孙明营;郭亚晶;崔子健;焦兆阳;石逸群;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于脉冲序列的元件损伤特性调控方法及损伤测试系统。通过对脉冲序列进行时域整形，改变脉冲序列时域包络形状，可以实现对光学元件损伤特性的调控。基于脉冲序列的元件损伤测试系统可以输出子脉冲能量比、间隔、数目、偏振均可独立调节的脉冲序列，可以满足不同种类脉冲序列的激光损伤特性调控及损伤测试条件，为探究元件损伤机理和提高元件损伤性能提供实验平台。
基于脉冲序列元件损伤特性调控方法测试系统

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