专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]版图中插入填充图形的方法-CN201210496239.3有效
  • 李彦正;周京英;孙长江 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2012-11-28 - 2017-02-15 - G06F17/50
  • 本申请公开了一种版图中插入填充图形的方法,包括以下步骤在每个局部区域的允许插入填充图形的结构中,虚拟地插入标准填充图形。计算该局部区域在虚拟地插入填充图形之后的图形密度,判断其是否大于或等于该局部区域的图形密度的最低要求。如果是,在该局部区域的允许插入填充图形的结构中实际插入该填充图形。如果否,在该局部区域的允许插入填充图形的结构中,虚拟地插入比上一次虚拟插入的填充图形更大的新的填充图形。不断重复直至该局部区域在插入新的填充图形之后的图形密度大于或等于该局部区域的图形密度的最低要求。本申请可以快速地实现在版图中插入填充图形,使得所有局部区域都满足最低的图形密度要求。
  • 版图插入填充图形方法
  • [发明专利]版图上IO间ESD电阻的检查方法-CN201310726962.0在审
  • 李彦正;周京英;邓樟鹏 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2013-12-25 - 2015-07-01 - G01R27/02
  • 本发明公开了一种版图上IO间ESD电阻的检查方法,包含的步骤为找出需要检测ESD电阻的IO区域的待测IO端口打上测试标识;区分出电源IO及信号IO,仅对信号IO做ESD检测;设定两个信号IO之间的最大ESD电阻值;找出两个待测信号IO间所有接电源和接地金属走线的电阻;对不同金属层次的方块电阻进行计算并归一化处理;计算找出某一待测信号IO与其他信号IO间所有接电源或者接地的走线金属,计算出每条金属走线所对应的电阻;将两个IO间所有的对应阻值计算出来,进行统计;找出其中的最小电阻值;根据最小电阻值及电阻并联规则运算出总的电阻值;将计算出的一个测设IO的电阻值与其他IO间的电阻使用冒泡法进行排序和比较;对于所有IO间ESD电阻列表进行描述。
  • 版图ioesd电阻检查方法
  • [发明专利]划片槽框架自动设计方法-CN201110309721.7有效
  • 曹晨;周京英;孙长江 - 上海华虹NEC电子有限公司
  • 2011-10-13 - 2013-04-17 - H01L27/02
  • 本发明公开了一种划片槽框架自动设计方法,对需要在划片槽中精确定位的标记图形,将该标记图形相对于划片槽框架原点的距离,转化为标记图形内部的有效图形在该标记图形内部的偏移量,重新生成新的标记图形,并优先放置在划片槽中;对带熔丝结构且熔丝结构延伸至划片槽内部的划片槽框架设计,则用只有占位标识层而无实际有效图形的占位标记图形先将熔丝结构的位置占去。该方法通过使用空图形精确占位,实现了特殊标记图形在划片槽区域的自动精确定位,确保了工程测量时图形之间不会因交叠而造成互相干扰。
  • 划片框架自动设计方法
  • [发明专利]形成风车形划片槽结构的方法-CN200810044083.9有效
  • 张喆;周京英;孙长江;倪凌云;丁华 - 上海华虹NEC电子有限公司
  • 2008-12-10 - 2010-06-23 - B28D5/00
  • 本发明公开了一种形成风车形划片槽结构的方法,包括以下步骤:第一步,根据芯片的尺寸和芯片的排列数目,生成矩形阵列的划片槽数据;第二步,确定占位图形单元的数据,生成多个占位图形单元;第三步,将各占位图形单元放置于所述矩形阵列四周的划片槽内,各占位图形单元在所述矩形阵列四周的划片槽内排列成风车形;第四步,利用布尔运算将占位图形单元所在位置上的划片槽层次去除,使矩形阵列四周的划片槽形成风车形状。本发明实现了本来比较复杂的风车形划片槽数据设计,使工艺用图形单元按风车形的规则排列在划片槽四周。
  • 形成风车划片结构方法

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