[发明专利]生成遮光带和透光带GDSII数据的方法

摘要

本发明公开了一种生成遮光带和透光带GDSII数据的方法，首先利用各个芯片的尺寸，各个芯片的横向个数，各个芯片的纵向个数，各个芯片的排列方式要素推算出遮光带和透光带的各个顶点的坐标，然后将所述的顶点的坐标直接转换为相应的GDSII数据。本发明可以消除因手动操作产生的失误，提高设计效率。适用于半导体集成电路工艺中掩模板制作。

主权项

1、一种生成遮光带和透光带GDSII数据的方法，其特征在于：首先利用各个芯片的尺寸，各个芯片的横向个数，各个芯片的纵向个数，各个芯片的排列方式要素推算出遮光带和透光带的各个顶点的坐标，然后将所述的顶点的坐标直接转换为相应的GDSII数据。