专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]译码方法、译码器、电子设备及存储介质-CN202210061214.4在审
  • 王帅;张烁;代计博;宋哲 - 北京理工大学
  • 2022-01-19 - 2022-05-27 - H04L1/00
  • 本发明提供一种译码方法、译码器、电子设备及存储介质,其中的译码方法包括:目标分量译码器基于信道信息,执行至少一次译码过程;目标分量译码器在确定至少一次译码过程执行完成后,基于最后一次译码过程,获得译码结果;其中,一次译码过程包括:目标分量译码器确定先验信息;基于输入的信道信息和目标分量译码器确定的先验信息,输出目标分量译码器对应的后验信息,其中,目标分量译码器对应的后验信息用于确定第二分量译码器的待输入的先验信息,其中,第二分量译码器为至少一个分量译码器中除目标分量译码器以外的译码器。本发明提供的译码方法、译码器、电子设备及存储介质,实现对强约束低码率的类Turbo码的译码。
  • 译码方法译码器电子设备存储介质
  • [发明专利]一种阵列天线近场幅相测量方法及幅相测量器-CN201511030715.2有效
  • 林玉洁;王长红;王帅;代计博;高原;安建平;卜祥元;肖冀秋 - 北京理工大学
  • 2015-12-31 - 2018-12-25 - G01R29/10
  • 本发明属于天线测量技术领域,提供一种阵列天线近场幅相测量方法及幅相测量器,包括:对参考天线接收的第一混合测试信号进行采样,得到第一采样信号;对探头在当前采样位置接收的第二混合测试信号进行采样,得到第二采样信号;根据第一采样信号,计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述参考天线之间信道的第一幅相信息;根据第二采样信号,计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述探头当前采样位置之间信道的第二幅相信息;根据第一幅相信息和第二幅相信息,计算被测阵列天线在当前采样位置的近场幅相信息。采用扩频信号做为阵列天线发送的校准信号,通过对校准信号的处理,提高了被测阵列天线的幅相信息测量的精确度和效率。
  • 一种阵列天线近场测量方法测量器
  • [发明专利]多通道幅相测试系统-CN201510257414.7有效
  • 安建平;王帅;宋哲;方金辉;林玉洁;卜祥元;代计博;鲁楠 - 北京理工大学
  • 2015-05-20 - 2017-10-27 - G01R25/00
  • 本发明涉及一种多通道幅相测试系统,属于微波信号测量技术领域。本发明多通道幅相测试系统能确保幅相测量精度仅受限于接收机内部热噪声,而不受多址干扰的影响,并可兼容同频、非同频波束的并行测试;能够形成虚拟多通道,用时分测量减少接收通道不一致性,有效降低发送端自检和校验、接收测量的系统复杂度;校准方法完善便捷,采用定期离线校准和在线自检与补偿的方式消除通道捷变矩阵、功分器、DAC以及滤波器的不一致性;幅相分布配置和测量精度高;测量范围广,能够测量中频和射频波束幅相关系;可以实现通道数量的可扩展性,只需增加信号处理组合信号发送模块的发送板卡的通道数和改变信号调理网络。
  • 通道测试系统
  • [发明专利]一种用于通道捷变差分测量的时隙设计方法-CN201510382357.5有效
  • 蒋志科;王帅;卜祥元;安建平;罗婧;涂水平;鲁楠;代计博 - 北京理工大学
  • 2015-07-02 - 2017-04-05 - H04B17/12
  • 本发明涉及一种用于通道捷变差分测量的时隙设计方法,该方法属于微波信号测量领域。本发明将多通道信号接入N入1出的通道切换网络;预设初始的通道切换时隙值,使得通道切换网络以整数倍码元周期,N入1出通道切换网络每经过一个整数倍码元周期,便切换到下一个通道,通道切换网络的串行输出信号接入幅相一致性测试仪,解算出N通道中每个通道信号包含的绝对幅度和绝对相位信息,解算出的N通道中各个通道信号包含的绝对幅度和相位信息进行绘制幅度曲线图和相位曲线图,找到幅相关系值趋于稳定所对应的通道切换时隙值;通过逐次逼近的方法最终确定最优时隙值,提高了多通道幅相测试系统中幅度和相位值的测量准确度,提高了系统性能。
  • 一种用于通道捷变差分测量设计方法

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