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[发明专利]一种半导体晶圆Bump三维形貌测量方法-CN202310916032.5在审
发明人：刘曜轩;步正延;舒远;高龙;陈曦;武帅 -专利权人：苏州威达智科技股份有限公司
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开的一种半导体晶圆Bump三维形貌测量方法，包括设定扫描轨迹，按照扫描轨迹对晶圆表面进行扫描，获取光谱亮度信息与高度信息，根据光谱亮度信息与高度信息转换为对应的亮度图、高度图与点云信息；扫描晶圆尺寸，生成默认值为0的深度图M，并通过扫描得到单条光谱图像信息，生成单条的深度图m，将深度图m与深度图M进行图像拼接，得到三维点云形貌图；通过三维点云形貌图获取晶圆三维图像信息，并进行图像处理，计算晶圆中Bump各维度的尺寸信息；将Bump各维度的尺寸信息进行汇总显示晶圆三维形貌信息图，并生成信息图表。
一种半导体 bump 三维形貌测量方法

[发明专利]作业信息的确定方法、装置及作业设备-CN202010283537.9有效
发明人：王宇飞;舒远;曹国;皮凯;陈钊;陈键钊;王斌;郭联波;林浩佳;夏环俊;邱红波;魏琦童 -专利权人：广东博智林机器人有限公司
申请日： 2020-04-13 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B25J9/16 文献下载
摘要：本发明提出一种作业信息的确定方法、装置及作业设备，该方法包括获取作业设备与作业对象的整体作业面之间的距离，整体作业面包括至少一个待作业面；根据距离确定各待作业面的尺寸；根据各尺寸和作业需求确定目标作业面的目标作业信息，目标作业面属于至少一个待作业面。本发明能够根据作业设备与整体作业面之间的距离确定出目标作业面实际的作业信息，有效地辅助作业设备的作业，保障作业设备的作业效果。
作业信息确定方法装置设备

[发明专利]一种柔性印刷电路板外观缺陷检测方法-CN202310885202.8在审
发明人：刘曜轩;袁浩飞;舒远;高龙;李岩 -专利权人：苏州威达智科技股份有限公司
申请日： 2023-07-19 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开的一种柔性印刷电路板外观缺陷检测方法，包括获取柔性印刷电路板良品的标准成像图像，并对图像进行预处理，得到优化图像；对优化图像进行LBP特征提取，得到不同模态的LBP特征图，得到不同模态对应的数据库；获取待检电路板图像，对图像进行仿射变换，扩充模态图数量至与良品数据集中模态一一对应，并提取待检电路板特征图，将待检电路板特征图与不同模态的LBP特征图进行相似度计算，获取不同模态图像注意力权重，最后所有图像进行带权重的差分比对，得到差分结果；判断所述差分结果是否大于预设阈值；若大于，则判定对应待检电路板存在缺陷；若小于或等于，则判定待检电路板为良品，本申请提高了检测效率，降低生产成本和时间。
一种柔性印刷电路板外观缺陷检测方法

[发明专利]图像传感器及成像方法-CN201880068674.1有效
发明人：王星泽;赖嘉炜;舒远 -专利权人：合刃科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-10-27 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： B81B7/02 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种图像传感器，包括：像素点传感器阵列、位于像素点传感器阵列前端的F‑P腔反射型滤光结构；其中，所述F‑P腔反射型滤光结构包括底层反射镜、F‑P腔体、顶层反射镜；所述图像传感器的结构从下至上依次为像素点传感器阵列、底层反射镜、F‑P腔体、顶层反射镜；其中，F‑P腔反射型滤光结构的结构属性及参数可以调节。此外，本发明实施例还公开了一种高动态范围图像成像方法。采用本发明中的图像传感器及成像方法，解决了在成像过程中各个波段欠曝或过曝的问题，提高了像素利用率和拍摄图像的动态范围。
图像传感器成像方法

[发明专利]一种VR设备镜头对位算法-CN202310743755.X在审
发明人：刘曜轩;诸德云;舒远;高龙 -专利权人：苏州威达智科技股份有限公司
申请日： 2023-06-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： H04N23/695 文献下载
摘要：本发明公开的一种VR设备镜头对位算法，包括控制镜头沿竖直方向移动，镜头移动过程中发光板在成像系统上进行图像呈现；通过图像发生器使发光板呈现标准的图像；将标准的图像与成像系统上的呈现的图像进行对比，并利用梯度算法计算当前图像各个位置的清晰度；判断清晰度是否大于或等于预设的清晰度阈值；若大于或等于，则根据各个位置的清晰度判断当前镜头在空间的位置与姿态；若小于，则生成调整信息，根据调整信息对镜头进行位置调整，使镜头中心与发光板中心重合，且角度重合；本申请通过较少的扫描次数就能够及时找到镜头最佳位置，同步调整镜头空间姿态。
一种 vr 设备镜头对位算法

[发明专利]一种VR镜头对位组装设备-CN202310744584.2在审
发明人：刘曜轩;叶鸣;罗伟凯;舒远 -专利权人：苏州威达智科技股份有限公司
申请日： 2023-06-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： B25B11/02 文献下载
摘要：本发明公开的一种VR镜头对位组装设备，包括设备本体与气浮平台机架；气浮平台机架顶部并列第一对位移载模组与第二对位移载模组，第一对位移载模组与第二对位移载模组顶部均配合连接有治具平台，治具平台上设置有第一定位治具与第二定位治具，第一定位治具用于定位第一对位零件，第二定位治具用于定位第二对位零件；第一对位移载模组与第二对位移载模组上方依次设置有对位夹持模组、光学测试模组与点胶组件；点胶组件用于对放置在第二定位治具上的第二对位零件进行组装前点胶；光学测试模组用于在对位组装过程中实时检测第一对位零件与第二对位零件的MTF值；对位夹持模组用于夹持第一对位零件完成与第二对位零件的对位组装。
一种 vr 镜头对位组装设备

[发明专利]一种倒装芯片六面AOI缺陷检测设备-CN202310923095.3在审
发明人：刘曜轩;刘大曙;李帅;孟占坤;李华;罗伟凯;舒远 -专利权人：苏州威达智科技股份有限公司
申请日： 2023-07-26 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明公开的一种倒装芯片六面AOI缺陷检测设备，包括设备本体以及设置在设备本体内部的平台；平台顶部设置有上料组件与下料组件，上料组件与下料组件并列设置，上料组与下料组件之间的设置有侧面检测相机；平台上设置有移载组件，移载组件包括移载支架以及设置在移载支架上的下料检测导轨与移载导轨，移载导轨上配合连接有移载抓取机构，下料检测导轨上配合连接有下料检测相机；移载支架上设置有上料检测相机，上料检测相机与下料检测相机分别检测芯片两面的缺陷；平台顶部设置有翻转组件，翻转组件设置在上料组件与下料组件的一端，翻转组件用于将上料组件上的芯片翻转180度，并放置在下料组件上。
一种倒装芯片 aoi 缺陷检测设备

[发明专利]一种晶圆自动化检测分选设备-CN202310809956.5在审
发明人：刘曜轩;孟占坤;刘大曙;朱建成;罗伟凯;李华;舒远 -专利权人：苏州威达智科技股份有限公司
申请日： 2023-07-04 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明公开的一种晶圆自动化检测分选设备，包括设备本体以及设置在设备本体内部的分选平台；分选平台顶部设置有取料组件；分选平台顶部设置有第一安装台与第二安装台，第一安装台顶部设置有交互模组，交互模组一侧设置有中转组件，交互模组用于抓取Tray盘放置在中转组件上进行中转；第一安装台一侧设置有弹夹组件，弹夹组件内部设置有若干个晶圆环；第二安装台顶部设置有扩膜组件与取晶圆组件，取晶圆组件用于将弹夹组件内的晶圆环抓取并放置在扩膜组件上，扩膜组件用于对晶圆环进行扩膜；取料组件用于将中转组件上的Tray盘内的晶粒进行抓取并进行检测与定位。
一种自动化检测分选设备

[发明专利]一种阻火栅卷绕装置及卷绕方法-CN202210807107.1有效
发明人：刘利利;舒丹;张雪;舒远;李明星;张保琦;郑艳 -专利权人：徐州盛安工业安全检测研究院有限公司
申请日： 2022-07-11 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： B65H18/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种阻火栅卷绕装置及卷绕方法，属于阻火栅卷绕领域。一种阻火栅卷绕装置，包括：波纹带和平钢带，还包括：卷绕平台，所述卷绕平台上设置有卷绕盘，且所述卷绕平台上设置有用于驱动卷绕盘转动的第一驱动组件；卷绕轴，所述卷绕轴上设置有夹持槽，所述夹持槽内设置有用于夹持波纹带和萍钢带的夹持组件；本发明有效的对卷绕的波纹带和平钢带进行夹持，防止平钢带和波纹带在卷绕时脱落造成的损失，同时有效的防止缠绕完成的阻火栅松散造成的损失，且保证阻火栅的空隙均匀。
一种阻火栅卷绕装置方法

[发明专利]缺陷检测方法及缺陷检测系统-CN201880071455.9有效
发明人：王星泽;舒远 -专利权人：合刃科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种缺陷检测方法，包括：利用不同波长的相干光源(11、12、13、14)照射被测物体；拍摄被测物体在不同波长的相干光源(11、12、13、14)照射下生成的多幅散斑图像；利用散斑图像检测被测物体的缺陷。有益效果：测量精度达到了光波波长量级，可以检测微米级别的微缺陷，是一种非接触、高精度、在线式、实时性的无损检测方法。
缺陷检测方法系统

[发明专利]一种重闭式弯折销阀-CN202111497970.3有效
发明人：徐典;肖艳;舒远;刘成;郭禹;张曼;张波;郑艳 -专利权人：徐州八方安全设备有限公司
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： F16K1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种重闭式弯折销阀，其阀杆与阀帽之间连接有可拆卸的针杆，阀杆上设有能够与下弹簧座接触的阀柱，当介质压力小于阀瓣闭合力时阀门密封，阀柱上端面不接触下弹簧座底面，阀盖底板上端面接触下弹簧座，弹簧压力形成的整定压力和针杆的整定压力一致，针杆不弯曲，阀门在接近整定压力时不泄漏；当介质压力大于阀瓣闭合力时阀门开启，阀杆上端的针杆受力弯曲，阀柱顶起下弹簧座，当压力下降后下弹簧座受弹簧弹力向下抵在底板上，最后更换针杆使阀处于初始状态，本装置兼顾了现有安全阀和弯折销阀的优点，当阀门到压力时能够自动泄压，当压力下降后能够自动关闭，同时在到达泄放压力前不会渗漏。
一种重闭式弯折销阀

[发明专利]基于相干光的避障装置及方法-CN201880067096.X有效
发明人：王星泽;舒远 -专利权人：合刃科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-07-27 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01S17/93 文献下载
摘要：一种基于相干光的避障装置及方法，包括：通过超声波获取被检测物体(10)与避障装置(20)之间的距离d(S701)；基于相干光获取在超声波刺激下被检测物体(10)的n张振动的散斑图像(S702)；根据n张振动的散斑图像，获取被检测物体(10)的振动波形信号；并根据振动波形信号确定被检测物体(10)的类别(S703)；提醒使用者其与被检测物体(10)之间的距离d和被检测物体(10)的类别(S704)。该方法能够全面检测周围环境中的物体，提高了物体识别精度，进而提高基于该物体识别的盲人导航、安防监控等级和汽车导航系统的精度。
基于相干光装置方法

[发明专利]生物特征识别方法、装置、系统及终端设备-CN201880067107.4有效
发明人：王星泽;闫静;舒远 -专利权人：合刃科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-07-27 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种生物特征识别方法，包括：控制光源生成一组相干光，所述相干光中的至少一束射向检材；通过微机电系统控制所述相干光对所述检材进行扫描；通过信号接收装置采集所述检材反射的光信号与所述相干光的干涉成像信息，根据所述干涉成像信息生成与所述检材对应的三维点云数据；对所述三维点云数据进行点云重构得到与所述检材对应的目标三维图像；通过将所述目标三维图像与预存储的参考数据进行比较从而实现身份识别。此外，本发明实施例还公开了一种生物特征识别装置、系统以及终端设备。采用本发明，可识别出伪造生物特征的检材，从而提高生物特征识别的准确性。
生物特征识别方法装置系统终端设备

[发明专利]曲面物体的缺陷检测方法及检测系统-CN201880001802.0有效
发明人：王星泽;舒远 -专利权人：合刃科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种曲面物体的缺陷检测方法及检测系统，其包括以下步骤：S1)控制光源生成多束相干激光；S2)控制所述多束相干激光从多个照射角度对曲面物体的检测区域进行照明；S3)通过光电传感器接收所述曲面物体反射或散射的相干激光信号并生成散斑图像；以及S4)根据所述散斑图像判断所述曲面物体是否存在缺陷及缺陷的类型。采用本发明的检测方法及检测系统，能有效解决曲面景深问题和光照均匀性问题，有效识别曲面物体表面的缺陷，提高检测精度。
曲面物体缺陷检测方法系统

[发明专利]一种基于四点定位提取MicroLED灯珠算法-CN202310831760.6在审
发明人：刘曜轩;董彬;诸德云;高龙;舒远 -专利权人：苏州威达智科技股份有限公司
申请日： 2023-07-07 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06V10/22 文献下载
摘要：本发明公开的一种基于四点定位提取MicroLED灯珠算法，包括采集灯珠图像，获取灯珠个数信息，并生成灯珠矩阵；根据灯珠矩阵计算发光灯珠区域与水平面的夹角，并计算发光灯珠区域顶点的图像坐标信息；根据S1中生成的灯珠矩阵计算顶点的标准图像坐标信息；将顶点的标准图像坐标信息与发光灯珠区域顶点的图像坐标信息进行映射计算，得到仿射变换矩阵；根据仿射变化矩阵计算每一个灯珠的中心点坐标，并对灯珠进行定位；本发明灯珠定位精度和效率较高，单张图像提取耗时只需要200ms左右，很大程度上提升了生产线的效率，提高了MircoLED生产厂商的良品率。
一种基于四点定位提取 microled 珠算

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